790-42040-101G美国原装芯片测试座 WELLS-CTI /BOYD /SENSATA QFN40
Plastronics总代理 QFN8封装老化测试座 08QN12AW36050 间距1.27mm
Plastronics中国地区代理 QFN32老化测试座 32LQ65S17070 0.65mm间距
WELLS-CTI原装芯片测试座 BOYD /SENSATA 790-42064-101G
美国原装芯片测试座 WELLS-CTI /BOYD /SENSATA 648B0322211
日本 YAMAICHI原装 芯片测试座 LQFP封装 IC500-1444-002P-1间距0.5
790-42048-101G美国原装芯片测试座 WELLS-CTI /BOYD /SENSATA QFN48
Plastronics总代理 QFN24封装老化测试座 24LQ50S15040
日本ENPLAS 原装测试座 SOP20 封装 OTS-20(28)-1.27-04
Plastronics总代理 QFN14封装老化测试座 14QN50TS33535 间距0.5mm
WELLS-CTI 原装芯片测试插座 QFN48封装 790-42048-101T QFN48封装
日本 YAMAICHI原装 芯片测试座 QFP100封装IC357-1004-105P-2间距0.5
CBG064-087G-3 BGA64封装 TI原装进口测试座 间距1.0
WELLS-CTI 790-62048-101T 原装芯片测试插座 QFN48封装
Plastronics代理 QFN24封装老化测试座 24QN40AH13030 间距0.4mm
H033DL2A/H033LL2A(高频针)PLASTRONICS总代理H-PIN原装
日本ENPLAS 原装测试座 TQFP64封装 OTQ-64-0.4-01
plastronics代理 QFN20封装老化测试座 20N40TS13030 0.4mm间距
Plastronics总代理 QFN28封装老化测试座28QN40S14040 间距0.4mm
QFN48封装测试座 48LQ40TS16060 0.4mm美国原装Plastronics总代理