美国原装Plastronics QFN44封装测试座 44LQ65S18080 0.65mm
OTQ-128-0.8-01日本ENPLAS 原装芯片测试座老化座 间距0.8
WELLS-CTI 790-42064-101T 原装芯片测试插座 QFN64封装
WELLS-CTI原装芯片测试座 BOYD /SENSATA 790-62056-101G
OTQ-112-0.65-02 ENPLAS原装芯片测试座 TQFP112 -0.65
日本 YAMAICHI原装 芯片测试座 QFP80封装 IC234-0804-001 间距0.8
WELLS-CTI 499-P44-20 IC测试座 499-P44-20 SOT6封装 间距0.94mm
日本 YAMAICHI原装 芯片测试座 QFP100封装 IC51-1004-814-2
日本YAMAICHI原装 芯片测试座 QFN56封装 NP506-056-051-SCG
日本YAMAICHI原装 芯片测试座 QFN56封装 NP506-056-009-SG
日本 YAMAICHI原装 芯片测试座 QFP80封装 IC51-0804-808-14
美国原装Plastronics QFN8封装带接地测试座 08TN13S18060 1.3mm
日本ENPLAS 原装测试座 SSOP34封装 OTS-34-0.65-01
本ENPLAS 原装测试座 SSOP16封装 OTS-16(34)-0.65-01
日本ENPLAS 原装芯片测试座QFP32封装 FPQ-32-0.8-01
Plastronics总代理 QFN16封装老化测试座 16QN65S14040 间距0.65mm
Plastronics总代理 QFN48封装老化测试座 48QN50S17070 间距0.5mm
Plastronics总代理 QFN28封装老化测试座 28LQ45S14040 间距0.45mm
日本 YAMAICHI原装 芯片测试座 QFP128 封装 IC51-1284-1433-10 间距0.5
WELLS-CTI原装芯片测试座 BOYD /SENSATA 790-42032-101