日本 YAMAICHI原装 芯片测试座 QFP240 封装 IC51-2404-1655-2 间距0.5
日本YAMAICHI原装 芯片测试座 QFN48封装 NP506-048-025-SG
日本YAMAICHI原装 芯片测试座 QFN40封装 NP506-040-016-G
日本YAMAICHI原装 芯片测试座 BGA196封装 NP351-196-724
日本 YAMAICHI原装 芯片测试座 QFP64封装 IC51-0644-824-3
日本 YAMAICHI原装 芯片测试座 SSOP30封装 IC189-0302-085间距0.65
美国原装Plastronics QFN8封装老化测试座 08QN50S23030 0.5mm间距
Plastronics总代理 QFN20封装老化测试座 20QN40TS13030 间距0.4mm
日本ENPLAS 原装测试座SOP48 封装 OTS-48-0.5-08
YAMAICHI NP445-032-003 QFN32封装 0.5间距 原装进口老化测试座
日本ENPLAS 原装测试座 TQFP80封装 OTQ-80-0.5-05
ENPLAS原装 TQFP封装 芯片测试座 OTQ-64-0.5-05
FPQ-128-0.4-01日本ENPLAS原装芯片测试座 TQP128
Plastronics总代理 QFN28封装老化测试座28QN50S15050 间距0.5mm
日本ENPLAS原装芯片测试座BGA封装 OTB-324(484RS)-0.8-047
3007-032-6-07美国原装芯片测试座 WELLS-CTI /BOYD /SENSATA
WELLS-CTI 790-41010-101G 原装芯片测试插座 QFN28封装
美国原装芯片测试座 WELLS-CTI /BOYD /SENSATA 652B0082211-002
日本ENPLAS 原装测试座SOP8封装 OTS-8-(20)-1.27-01
日本 YAMAICHI原装 芯片测试座 QFP80封装 IC51-0804-795