日本 YAMAICHI原装 芯片测试座 QFP32 封装 IC51-0324-1498
Plastronics总代理 QFN20封装老化测试座 20QH50Y13030 间距0.5mm
日本ENPLAS 原装测试座 TQFP64封装 OTQ-64-0.65-04
WELLS-CTI原装芯片测试座 BOYD /SENSATA 790-41028-101G
日本 YAMAICHI原装 芯片测试座 QFP48封装IC234-0484-039P 间距0.5
日本ENPLAS 原装测试座 QFN16封装 QFN-16(24)B-0.5-01
美国原装Plastronics QFN68封装测试座 68LQ40S18080 0.4mm
WELLS-CTI 790-62064-101G 原装芯片测试插座 QFN64封装 进口测试座
美国原装Plastronics QFN32 封装测试座32QN40TS24040 0.4MM
日本ENPLAS 原装测试座 SOP16 封装 OTS-16(28)-1.27-04
日本YAMAICHI原装 芯片测试座 QFN32封装 NP506-032-005-G
美国原装Plastronics QFN64封装测试座 64LQ50S19090 0.5mm
日本 YAMAICHI原装 芯片测试座 QFP48封装 IC51-0484-806-11
日本ENPLAS 原装测试座 TQFP80封装 OTQ-80-0.8-03
Plastronics中国代理 QFN20老化测试座 20QN65TS15050 0.65mm间距
日本ENPLAS 原装测试座 TQFP144封装 OTQ-144S-0.5-001
plastronics代理 QFN20封装老化测试座 20LQ50S13030 0.5mm间距
日本 YAMAICHI原装 芯片测试座 IC120-0524-307(PLCC52封装) 间距1.27
日本ENPLAS 原装测试座 TQFP64封装 OTQ-64-0.5-03
日本 YAMAICHI原装 芯片测试座 SOP30封装IC189-0302-121P 间距0.65