日本 YAMAICHI原装 芯片测试座 QFP32封装IC234-0324-044P间距0.8
日本 YAMAICHI原装 芯片测试座 QFP32封装IC234-1204-048P间距0.8
ENPLAS原装TQFP52封装 芯片测试座FPQ-52-0.65-04
ENPLAS原装TQFP144封装 芯片测试座FPQ-144-0.5-03
plastronics代理 QFN8封装老化测试座 08QN50T22020 0.5mm间距
日本ENPLAS 原装测试座 SSOP24封装 OTS-20(24)-0.65-01
WELLS-CTI 790-61028-101T 芯片测试插座 QFN28封装
日本进口ENPLAS原装芯片测试座 OQN-32SSG-0.5-002
日本ENPLAS 原装测试座 TSSOP20 封装 OTS-20(28)-0.65-01
plastronics代理 QFN16 封装老化测试座16QN50S23030 0.5mm间距
美国原装芯片测试座 WELLS-CTI /BOYD /SENSATA 656-4242211-001H
日本 YAMAICHI原装 芯片测试座 SOP38 封装 IC51-0382-2036 间距0.5
日本ENPLAS 原装测试座 TQFP64封装 OTQ-64-0.8-03
美国原装芯片测试座 WELLS-CTI /BOYD /SENSATA 790-41010-101T QFN10
日本 YAMAICHI原装 芯片测试座 QFP100 封装 IC51-1004-809-23
日本 YAMAICHI原装 芯片测试座 PLCC84封装IC51-0844-401-1间距1.27
日本YAMAICHI原装 芯片测试座 QFN48封装 NP506-026-G-A040
美国原装芯片测试座 WELLS-CTI /BOYD /SENSATA 648A0322211-A01H
日本ENPLAS 原装测试座 SSOP28 封装 OTS-28(34)-0.65-01
日本 YAMAICHI原装 芯片测试座 QFP64封装 IC51-0644-824-5