日本ENPLAS原装秘进口 芯片测试座 OTS-38-0.5-02
日本ENPLAS 原装测试座 TQFP80封装 OTQ-80S-0.5-001
日本 YAMAICHI原装 芯片测试座 QFP64 封装 IC51-0644-807
日本 YAMAICHI原装 芯片测试座 QFP80封装IC51-0804-711间距0.65
Plastronics总代理 美国原装芯片测试座 32LQ50S15050 0.5mm间距
日本ENPLAS原装 QFN封装芯片测试座 QFN-16B-0.65-01
日本ENPLAS原装芯片测试座 SOP38 OTS-38(44)-0.5-01
plastronics代理 DFN24封装老化测试座 24QN50S14040 0.5mm间距
日本ENPLAS 原装测试座 QFN16封装 QFN-16(24)BT-0.5-02
日本 YAMAICHI原装 芯片测试座 QFP128封装 IC51-1284-1788
WELLS-CTI 790-41036-101G 原装芯片测试插座 QFN36封装
WELLS-CTI 499-P36-20 美国原装进口IC测试座 TO-236-3封装 间距1.9mm
美国原装芯片测试座 WELLS-CTI /BOYD /SENSATA 656-0102211
日本ENPLAS 原装测试座 QFN24封装 QFN-24BT-0.5-01
Plastronics总代理 QFN8封装老化测试座 08LQ12TS16050 1.27mm间距
日本ENPLAS 原装测试座 SOP16 封装 OTS-16-1.27-04
Plastronics总代理 QFN48封装老化测试座 48LQ50S17070-J 0.5mm间距
日本YAMAICHI原装 芯片测试座 QFN48封装 NP506-048-002-SG
日本YAMAICHI原装 芯片测试座 QFN40封装 NP506-040-048-SCG
plastronics代理 QFN10 封装老化测试座10TN40T12020 0.4mm间距