Plastronics总代理 QFN20封装老化测试座 20LQ50S43535 间距0.5mm
美国原装Plastronics QFN8 封装老化测试座08LT13S18060 1.3mm间距
Plastronics中国地区代理 原装芯片测试座 24LQ40TS13030 0.4mm间距
日本ENPLAS 原装测试座 SSOP24封装 OTS-8(24)-0.65-01
Plastronics中国总代理 QFN24封装老化测试座 24QN40TS13535间距0.4mm
WELLS-CTI原装芯片测试座 BOYD /SENSATA 790-42088-101T
美国原装Plastronics QFN32封装带接地测试座 32QN65S17070 0.65mm
日本 YAMAICHI原装 芯片测试座 QFP44封装IC234-0444-037N 间距0.8
日本ENPLAS 原装芯片测试座TQFP44封装 FPQ-44-0.8-17
Plastronics总代理 QFN24封装老化测试座 24LQ50S14040 间距0.5mm
美国原装Plastronics QFN44封装测试座 44LQ50S17070 0.5mm
美国原装芯片测试座 WELLS-CTI /BOYD /SENSATA 790-62040-101T QFN40
Plastronics中国地区代理 QFN48老化测试座48QN40TS16060 0.4mm间距
美国原装芯片测试座 WELLS-CTI /BOYD /SENSATA 790-42072-101G QFN72
日本YAMAICHI原装 芯片测试座 QFN40封装 NP506-040-030-CG
日本 YAMAICHI原装 芯片测试座 QFN40封装IC609-0404-028-G间距0.4
Plastronics总代理 QFN20封装老化测试座 20QN40AHS13030 间距0.4mm
西尔特SUPERPRO/7500N USB2.0脱机联机高速通用编程器
日本 YAMAICHI原装 芯片测试座 QFN48封装IC609-0484-010-G间距0.4
Plastronics中国地区代理原装芯片测试座 DFN20封装老化测试座 20QN50K14535 0.5mm间距