美国原装芯片测试座 WELLS-CTI /BOYD /SENSATA 790-61020-101G QFN20
美国原装芯片测试座 WELLS-CTI /BOYD /SENSATA 790-62064-101T QFN64
日本YAMAICHI原装 芯片测试座 QFN28封装 NP506-028-046G-SCG
美国原装芯片测试座 WELLS-CTI /BOYD /SENSATA 652D0162211-202H
日本YAMAICHI原装 芯片测试座 BGA137封装 NP351-137-368
plastronics代理 QFN8封装老化测试座08LT80S14040 0.8mm间距
日本进口ENPLAS 原装测试座 QFN封装 QFN-56BT-0.4-01
Plastronics总代理QFN16封装老化测试座16QN65S14040 0.65mm间距
WELLS-CTI 790-62088-101T 原装芯片测试插座 QFN88封装
H027WL1A /H027LL1A(高频针)PLASTRONICS总代理(Smiths) H-PIN美国原装 H-PIN H027
美国原装Plastronics QFN16封装测试座16LQ65S14040 0.65mm间距
日本 YAMAICHI原装 芯片测试座 QFP176 封装 IC51-1764-1505-5 间距0.5
美国原装Plastronics QFN140封装测试座40LQ50S16060 0.5mm间距
Plastronics总代理 QFN36封装老化测试座 36LQ40S16060
美国原装Plastronics QFN8封装测试座 08QN50T43020 0.5MM
Plastronics总代理 QFN64封装老化测试座 64QN50S19090 间距0.5mm
H057DL1A/H057LL1A 美国原装H-PIN PLASTRONICS总代理 H057
美国原装芯片测试座 WELLS-CTI /BOYD /SENSATA 790-61076-101T QFN76
Plastronics总代理 QFN8封装老化测试座08QN12AW36050间距1.2mm
日本 YAMAICHI原装 芯片测试座 QFP144 封装 IC51-1444-1354-7