日本ENPLAS 原装测试座 QFP100封装 OTQ-100S-0.5-001
日本ENPLAS 原装测试座 QFP48封装OTQ-48-0.5-10
日本ENPLAS 原装测试座 TQFP80封装 OTQ-80-0.65-07
日本ENPLAS 原装测试座 QFP100封装 OTQ-100SG-0.5-008 带接地柱
日本ENPLAS原装 SOP封装芯片测试座 OTS-32-1.27-16
日本ENPLAS 原装测试座 TSSOP8封装 OTS-8(28)-0.65-01
日本 YAMAICHI原装 芯片测试座 IC120-0204-205 (PLCC20)封装 间距1.27
plastronics代理 QFN16封装老化测试座 16LQ50S23030 0.5mm间距
plastronics代理 QFN20老化测试座 20LQ65TS15050 0.65mm间距
美国原装Plastronics QFN28封装老化测试座 28LQ50TS14040 0.5mm间距
日本ENPLAS 原装测试座SOP 封装 OTS-16(20M)-1.27-01
美国原装Plastronics QFN12封装老化测试座 12QN50S33030 0.5mm间距
美国原装Plastronics QFN40封装 测试座 40QN50S16060 0.5mm 6x6
Plastronics总代理 美国原装芯片测试座32LQ40TS24040 0.4mm间距
Plastronics总代理 美国原装芯片测试座 08TN13A18060 1.27mm间距 8*6
美国原装Plastronics QFN56 封装测试座 56QN40TS17070 0.4mm间距 7*7
日本ENPLAS 原装测试座 QFN36封装 QFN-36BT-0.5-01
日本ENPLAS 原装测试座 SOP48 封装OTS-48-0.5-014
日本ENPLAS 原装测试座 QFN28封装 QFN-28B-0.65-01
日本ENPLAS 原装测试座 TQFP100封装 OTQ-128SG-0.4-001