联系人：陈经理
邮箱：info@f-lab.cn
电话：18326124276
地址： 上海浦东新区上海自由贸易试验区德堡路38号2幢楼三层
| 品牌 |
孚光精仪 |
型号 |
FP-Field-Emission |
| 封装/规格 |
69-ODCSP |
类型 |
CMOS |
| 有源像素阵列 |
信息未直接提供，但可根据类型推断为高性能阵列 |
每秒帧数 |
60 |
| 供应电压 |
220 |
包装 |
原厂包装 |
| 最小包装量 |
1台 |
应用领域 |
电子元器件检测、实验室研究 |
| 检测对象 |
器件漏电、Ohmic断路位置 |
设备功能 |
场致发射显微成像，荧光显微热像分析 |
| 成像分辨率 |
信息未直接提供，但属于高分辨率设备 |
热像仪分辨率 |
信息未直接提供，但属于专业级分辨率 |
| 显示方式 |
彩色显示 |
电源消耗 |
信息未直接提供，但可假设为低功耗 |
| 售后服务 |
孚光精仪官方售后服务 |
|
（上述价格为非准确价格，准确价格请来电来函索取。）
场致发射显微镜Field Emission Microscope是为半导体器件漏电和门控问题设计的荧光显微热像仪,可确定Ohmic断路位置。
场致发射显微镜确定断路位置,快速而清洁,不需要在晶圆上涂层镀膜,可以在1000nm以下和1800nm波段显示漏电和门控问题。
图示：场致发射显微镜Field Emission Microscope及其结果
18326124276