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Micromatter 测厚仪钯镀层标准片 Calmetrics Pd/XX
这些都是高纯度的，在几乎所有情况下，由一层组成的单元素膜，可以放置在任何空白基板上进行XRF校准。由于其固有的脆弱性，所有1微米及以下的箔都是金属膜，将其应用于3.6微米的聚酯薄膜上，以提供支撑并增强耐用性。特殊元件箔可能会出现例外情况。较厚的箔也可以用薄的有机（X射线透明）膜支撑，以增加支撑和耐久性。这些箔片粘附在不锈钢金属框架上，便于搬运和贴标签，暴露出箔片的有限区域进行测量。单层箔用于通过XRF校准单层厚度测试应用。
Pd (Palladium) Foils钯箔可用厚度：
Part No.SPD2，理论厚度：0.05 μm
Part No.SPD4，理论厚度：0.10 μm
Part No.SPD10，理论厚度：0.25 μm
Part No.SPD20，理论厚度：0.50 μm【主图展示为此项】
Part No.SPD40，理论厚度：1.0 μm
Part No.SPD60，理论厚度：1.5 μm
Part No.SPD80，理论厚度：2.0 μm
Part No.SPD120，理论厚度：3.0 μm
Part No.SPD200，理论厚度：5.0 μm
以上厚度值为理论厚度，收到的厚度值将在理论值附近。
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