Micromatter 测厚仪铟镀层标准片 Calmetrics In/XX

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　　Micromatter 测厚仪铟镀层标准片 Calmetrics In/XX

　　这些都是高纯度的，在几乎所有情况下，由一层组成的单元素膜，可以放置在任何空白基板上进行XRF校准。由于其固有的脆弱性，所有1微米及以下的箔都是金属膜，将其应用于3.6微米的聚酯薄膜上，以提供支撑并增强耐用性。特殊元件箔可能会出现例外情况。较厚的箔也可以用薄的有机（X射线透明）膜支撑，以增加支撑和耐久性。这些箔片粘附在不锈钢金属框架上，便于搬运和贴标签，暴露出箔片的有限区域进行测量。单层箔用于通过XRF校准单层厚度测试应用。

　　In (Indium) Foils铟箔可用厚度：

　　Part No.SIN4，理论厚度：0.10 μm

　　Part No.SIN10，理论厚度：0.25 μm【主图展示为此项】

　　Part No.SIN20，理论厚度：0.50 μm

　　Part No.SIN40，理论厚度：1.0 μm

　　Part No.SIN80，理论厚度：2.0 μm

　　Part No.SIN200，理论厚度：5.0 μm

　　Part No.SIN240，理论厚度：6.0 μm

　　Part No.SIN400，理论厚度：10 μm

　　Part No.SIN600，理论厚度：15 μm

　　Part No.SIN1000，理论厚度：25 μm

　　Part No.SIN1600，理论厚度：40 μm

　　以上厚度值为理论厚度，收到的厚度值将在理论值附近。

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