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Micromatter 测厚仪镍上镀锡双镀层标准片 Calmetrics Sn/Ni/XX
这些都是高纯度的，在几乎所有情况下，由两个单独的层组成的单元素膜，可以放置在任何空白基板上进行XRF校准。由于其固有的脆性，所有组合厚度为1微米及以下的薄膜都应用于3.6微米的聚酯薄膜上，以提供支撑并增强耐用性。对于特定的薄膜组合箔，可能会注意到例外情况。较厚的箔也可以用薄的有机（X射线透明）膜支撑，以增加支撑和耐久性。这些箔片粘附在不锈钢金属框架上，便于搬运和贴标签，暴露出箔片的有限区域进行测量。双层箔用于通过XRF校准2层厚度测量应用。
Sn/Ni (Tin/Nickel) 2 layer foils镍上镀锡双镀层箔可用厚度：
Part No.SSN50NI150，理论厚度：Sn：1.3 μm；Ni：3.8 μm
Part No.SSN50NI400，理论厚度：Sn：1.3 μm；Ni：10 μm
Part No.SSN180NI150，理论厚度：Sn：4.4 μm；Ni：3.8 μm
Part No.SSN180NI400，理论厚度：Sn：4.4 μm；Ni：10 μm
以上厚度值为理论厚度，收到的厚度值将在理论值附近。
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