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Micromatter 测厚仪镍上镀铑双镀层标准片 Calmetrics Rh/Ni/XX
这些都是高纯度的，在几乎所有情况下，由两个单独的层组成的单元素膜，可以放置在任何空白基板上进行XRF校准。由于其固有的脆性，所有组合厚度为1微米及以下的薄膜都应用于3.6微米的聚酯薄膜上，以提供支撑并增强耐用性。对于特定的薄膜组合箔，可能会注意到例外情况。较厚的箔也可以用薄的有机（X射线透明）膜支撑，以增加支撑和耐久性。这些箔片粘附在不锈钢金属框架上，便于搬运和贴标签，暴露出箔片的有限区域进行测量。双层箔用于通过XRF校准2层厚度测量应用。
Rh/Ni (Rhodium/Nickel) 2 layer foils镍上镀铑双镀层箔可用厚度：
Part No.SRH5NI125，理论厚度：Rh：0.13 μm；Ni：3.1 μm
Part No.SRH7NI200，理论厚度：Rh：0.2 μm；Ni：5 μm
Part No.SRH10NI100，理论厚度：Rh：0.25 μm；Ni：2.5 μm
Part No.SRH10NI240，理论厚度：Rh：0.25 μm；Ni：6 μm
Part No.SRH10NI400，理论厚度：Rh：0.25 μm；Ni：10 μm
Part No.SRH15NI100，理论厚度：Rh：0.38 μm；Ni：2.5 μm
Part No.SRH15NI200，理论厚度：Rh：0.38 μm；Ni：5 μm
Part No.SRH15NI400，理论厚度：Rh：0.38 μm；Ni：10 μm
Part No.SRH20NI300，理论厚度：Rh：0.5 μm；Ni：7.5 μm
以上厚度值为理论厚度，收到的厚度值将在理论值附近。
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