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Micromatter 测厚仪锡铋合金镀层标准片 Calmetrics Sn-Bi/XX
合金箔由一层或多层由2种或多种元素组成的合金组成。这种箔可以放置在任何空白基板上，用于XRF校准，用于类似合金膜的厚度和成分测量。厚度和成分值符合这些标准。由于其固有的脆性，所有厚度为1微米或更小的金属合金膜的箔都应用于3.6微米的聚酯薄膜上，以提供支撑并增强耐用性。特殊元件箔可能会出现例外情况。较厚的合金箔也可以用薄的有机（X射线透明）膜支撑，以增加支撑和耐久性。这些箔片粘附在不锈钢金属框架上，便于搬运和贴标签，暴露出箔片的有限区域进行测量。
Sn-Bi (Tin-Bismuth) foils锡铋合金镀层箔可用厚度：
Part No.SSNBI160-40，理论厚度：4.0 μm（锡理论含量40%）
Part No.SSNBI520-40，理论厚度：13 μm（锡理论含量40%）
Part No.SSNBI200-60，理论厚度：5.0 μm（锡理论含量60%）
Part No.SSNBI500-60，理论厚度：12.5 μm（锡理论含量60%）
Part No.SSNBI70-90，理论厚度：1.8 μm（锡理论含量90%）
Part No.SSNBI100-90，理论厚度：2.5 μm（锡理论含量90%）
Part No.SSNBI200-90，理论厚度：5.0 μm（锡理论含量90%）
Part No.SSNBI520-90，理论厚度：13 μm（锡理论含量90%）
Part No.SSNBI100-97，理论厚度：2.5 μm（锡理论含量97%）
Part No.SSNBI200-97，理论厚度：5.0 μm（锡理论含量97%）
Part No.SSNBI500-97，理论厚度：12.5 μm（锡理论含量97%）
Part No.SSNBI800-97，理论厚度：20 μm（锡理论含量97%）
以上厚度值为理论厚度，收到的厚度值将在理论值附近。
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