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| 品牌 |
孚光精仪 |
型号 |
FP-Field-Emission |
| 货号 |
无 |
材质 |
无 |
| 规格 |
www.felles.cn/irimaging.html |
加工定制 |
否 |
| 是否进口 |
是 |
|
（上述价格为非准确价格，准确价格请来电来函索取。）
场致发射显微镜Field Emission Microscope是为半导体器件漏电和门控问题设计的荧光显微热像仪,可确定Ohmic断路位置。
场致发射显微镜确定断路位置,快速而清洁,不需要在晶圆上涂层镀膜,可以在1000nm以下和1800nm波段显示漏电和门控问题。
图示：场致发射显微镜Field Emission Microscope及其结果
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