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| 型号 |
FPMIC-PITHERM |
操作方式 |
程序控制 |
| 测量行程 |
300*200 |
加工定制 |
是 |
| 分辨率 |
1um |
重量 |
55 |
| 厂家 |
www.felles.cn/irimaging.html |
|
微米/纳米热传导测量系统采用SanjSCOPE? 纳秒瞬态热成像仪和锁相锁定热反射 (TR) 系统，实现器件纳米或微米尺度传热成像。
(上述价格不一定准确，请您联系我们获得准确报价）
微米/纳米热传导测量系统在可见光波段进行了优化，具有衍射限制的空间分辨率。光谱范围达到365nm~1050nm，瞬态响应为 50ns。这种宽光谱范围支持基于锁相锁定热反射 (TR) 成像，用于对各种先进设备进行热分析。
微米/纳米热传导测量系统应用背景
NUV 覆盖范围对于 GaN 和其他宽带隙器件的热分析尤为重要。凭借亚微米空间分辨率,50ns瞬态分辨率以及对 TransientCAL? 和 HyperSpectral 校准的支持，微米/纳米热传导测量系统系统将满足zui先进的电子和光电设备的热成像要求。可选的 IR 传感器可用于进行宏观分析，以检测非常低的功率水平，并能够在微观尺度上归零，以便对检测到的热点或其他热异常进行更详细的分析。
微米/纳米热传导测量系统规格参数
产品类型: 脉冲激光热成像分析仪器
瞬态分辨率: 脉宽800 ps (FWHM)
成像传感器: EMCCD
光谱范围: 480nm~1060nm
有效像素: 1024 x 1024
像素尺寸: 13微米
空间分辨率
380 nm (@100x, 0.7 NA, 532 nm照明)
760 nm (@100x, 0.7 NA, 1060 nm照明)
NETD: 1000 mK
照明光源: 脉冲二极管激光器 532 nm, 1060 nm
可选物镜: 5x, 20x, 100x
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