联系人：张军涛
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电话：15814404453
地址： 中国 广东 深圳市深圳宝安25区
| 品牌 |
BOWMAN博曼 |
是否支持加工定制 |
否 |
| 是否进口 |
是 |
操作方式 |
控制面板 |
| 测定对象 |
13号铝元素到92号铀元素 |
测量范围 |
1 |
| 测量精度 |
5 |
测量行程 |
640 |
| 电源 |
220 |
放大倍率 |
30 |
| 分辨率 |
120 |
分度号 |
1 |
| 精度 |
5% |
类型 |
1 |
| 适用范围 |
电镀液，五金镀层，元素分析 |
输出端参数 |
1 |
| 外形尺寸 |
450 |
显示方式 |
电脑 |
| 应用范围 |
元素分析 |
重量 |
50 |
| 准确度 |
5 |
探测器 |
SDD探测器 |
| 分析层数 |
5层 |
焦距 |
可变焦功能 |
| X射线管 |
50瓦钼靶微聚焦铍窗X射线管 |
|
- O系列采用毛细管光学结构，拥有精准的测试性能，同时能实现极小的X射线光斑尺寸。该系列用毛细管结构取代了安装在博曼标准机型中的准直器组件。由于多导毛细管可以传递数百倍的能量信号,可以有效提高到达样品表面的入射X射线强度。O系列配备高分辨率的SDD探测器，在短时间内捕捉并处理大量数据，在短时间内满足极小斑点的测量的同时获取精准的测量结果（准确性和重复性）。
- 该系列采用80μm毛细管光学结构，同时配备可处理更高计数速率的高分辨率SDD硅漂移探测器。O系列的相机具有更大的放大倍数，拥有45x视频放大和5x数码变焦。一个可编程的XY样品台也是标准配置。O系列的焦距非常接近，所以使用时样品必须平整。
博曼O系列可满足以下类型用户的需求：
- 极小的样品，如半导体，连接器或PCB
- 需要测试多个样品的多个位置
- 需要测量非常薄的涂层（<100nm）
- 需要在短时间内完成测量（1-5秒）- 符合IPC-4552A
参数
元素测量范围： 13号铝元素到92号铀元素
X射线管： 50 W钼钯射线管 80um毛细管光学结构
探测器： 135eV及以上分辨率的硅漂移探测器
分析层数及元素数： 5层，每层可分析10种元素，成分分析最多可分析25种元素
滤波器： 2位置一次滤波器
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