材料检测 高性能金相分析 无限远光学系统 正置高倍显微镜 拍照测量
材料检测 高性能金相分析 无限远光学系统 正置高倍显微镜 拍照测量

材料检测 高性能金相分析 无限远光学系统 正置高倍显微镜 拍照测量

价格 8,800.00
起订量 10㎡
货源所属商家已经过真实性核验
品牌
型号 XK-200
关键字
在线咨询 立即下单 留言询价 电话咨询
深圳市西尼科光学仪器有限公司
通过真实性核验手机验证
主营:
视频显微镜

进入店铺全部产品

店内推荐

联系我们

联系人:史礼霞

邮箱:2458862957@qq.com

电话:18588225860

地址: 广东深圳市龙华区大浪鹊山云峰路

产品详情
是否支持加工定制

型号

XK-200

光学系统

无限远色差校正光学系统

仪器倍率

50x-1000x图像倍率:≥2600x

观察筒

双目:三目

物镜

物镜5X、10X、20X、50X

偏光系统

简易偏光(选配)

转换器

内定位五孔转换器

照明系统

透反射

载物台

双层机械移动平台

工业相机

USB/HDMI/解析度可选

相机功能

拍照,录像,测量(选配)

反射照明

LED

摄影装置

0.5X C型摄像接筒




产品介绍:
正置金相显微镜采用平场消色差光学系统和落射式柯拉照明系统,同时在落射照明系统中设计防反射结构,有效防止反射光干扰成像光线,从而使成像更清晰、视场衬度更好。
性能特点:
■采用(SONY)索尼大芯片,高清,无拖影,色彩饱满。
■提供稳定可靠的操作机构,使成像更清晰,操作更简便。
■显微镜镜体采用全新的人机工程学设计,结构匀称,实现镜体扩展积木化。
■工作台、光强与粗微调的低位操作,提高了使用的舒适性。
■广泛应用于各类半导体硅晶片检测、材料科学研究、地质矿物分析及精密工程等学科领域。





商家电话:
18588225860