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| 品牌 |
HITACHI |
型号 |
FIB-SEM系列 |
| 自动化程度 |
全自动 |
操作方式 |
手动 |
| 加工定制 |
是 |
分辨率 |
90mm |
| 测量范围 |
66mm |
电压 |
85V |
| 单幅测量精度 |
25mm |
单幅测量点数 |
5 |
| 测量点距 |
35mm |
外形尺寸 |
未知 |
| 重量 |
100kg |
|
由于汇率各方面因素影响,以上价格不作为成交价格,详情请来电垂询各地区商务代表,给您带来不便,深表歉意!
株式会社 日立製作所 Hitachi, Ltd.
日立实时三维分析FIB-SEM系列 HITACHI三束系统NX9000 高精度
追求理想的三维结构分析
通过自动重复使用FIB制备截面和进行SEM观察,采集一系列连续截面图像,并重构特定微区的三维结构。
采用最理想的镜筒布局,从先进材料、先进设备到生物组织——在宽广的领域范围内实现传统机型难以企及的高精度三维结构分析。