联系人：黄桂宇
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电话：15818790182
地址： 广东深圳市龙华区山咀头创客大厦
| 产地 |
日本 |
是否进口 |
否 |
| 订货号 |
22 |
品牌 |
santec |
| 货号 |
23 |
型号 |
OTF-980 |
| 光源类型 |
LED灯 |
光源功率 |
200000 |
| 灯罩型式 |
玻璃 |
光源型号 |
KTL-350 |
| 光源颜色 |
正白 |
光通量 |
8 |
| 工作电压 |
220 |
灯头规格 |
E14 |
| 镇流器型号 |
23 |
触发器型号 |
21 |
| 主要适用范围 |
图像检查 |
加工定制 |
否 |
| 是否跨境出口专供货源 |
否 |
规格 |
白色 |
| 是否一般纳税人 |
是 |
认证 |
无 |
| 是否有专利 |
否 |
合格纤维带 |
可能达到φ20mm |
| 调光方式 |
电压调光 |
照明方式 |
直流照明 |
日本santec具有可变传输波长和带宽的可编程光学滤波器OTF-980
具有可变传输波长和带宽的可编程光学滤波器
总览
OTF-980具有C和L波段的宽带波长可变范围，并且具有三种类型的产品系列，具有不同的斜率形状以传输带宽。其中，Ultrafine-Plus型滤波器的斜率最陡，为1000 dB / nm。此外，内置的功率监控器和出色的峰值搜索算法可以将滤波器中心波长自动设置为输入信号波长。通过GPIB，以太网和USB支持符合SCPI的外部通信命令，可通过远程控制和编程实现自动测量。该产品还可以通过前面板上的触摸屏进行控制。
特性
运用
规范
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类别 | 参数 | 单元 | 标准 | 超细 | 超细加号 | |
波长特性 | 波长范围 | 纳米 | 1525至1610 | |||
准确性 | 纳米 | ±0.05（典型值±0.03） | ||||
重复性??* 1 | 纳米 | ±0.01（典型值±0.005??* 4） | ||||
设定解析度 | 纳米 | 0.001 | ||||
过滤 | 带宽@ -3 dB | 纳米 | 0.1至15 | 0.08至4 | 0.05至3 | |
准确性 | 纳米 | ±0.05（典型值±0.03） | ||||
重复性??* 1 | 纳米 | ±0.01 | ||||
设定解析度 | 纳米 | 0.001 | ||||
滤镜斜率??* 2??（典型值） | 分贝/纳米 | 200 | 500 | 1000 | ||
功率特性 | 最大输入功率??* 3 | 分贝 | + 27 | |||
插入损耗 | 带宽≧0.2 nm | D b | 5??* 5、6??（典型值为3.5） | 6??* 5，7??（典型5） | ||
带宽<0.2 nm | D b | 7??* 5、6??（典型值为5.5） | 8??* 5、7??（典型值7） | |||
串扰（典型值） | D b | 50 | ||||
偏振相关损耗（典型值） | D b | 0.2 | ||||
峰值搜索功能（可选） | – – | 是 | ||||
接口 | 通讯 | – – | GP-IB（IEEE488.2），USB和以太网 | |||
显示 | ? | 5.6英寸陶瓷触摸屏（分辨率640 x 480） | ||||
光纤 | ? | SMF | ||||
光连接器 | ? | FC或SC | ||||
光学抛光 | ? | SPC或APC（角度PC） | ||||
环境条件 | 工作温度 | 摄氏度 | 15至35 | |||
工作湿度 | %% | <80 | ||||
电源供应 | 电压 | V | AC100至240±10％ | |||
频率 | 赫兹 | 50/60 | ||||
能量消耗 | VA | 100 | ||||
其他 | 尺寸（W）x（D）x（H） | 毫米 | 210 x 350 x 133 | |||
重量 | 公斤 | 8.5 | ||||
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* 1：温度25±1℃
* 2：在--3 dB> 0.2 nm时带宽在--3至--40 dB之间
* 3：在使用峰值搜索选项的情况下，输入功率范围为--30 dBm至+ 20 dBm 。
* 4：使用峰值搜索功能时，波长重复性提高到±0.005牛顿米（典型值）。
* 5：在案例峰值搜索选项，插入损耗增加了由0.5 DB
* 6：插入损耗（1525牛顿米至1530 nm）的波长范围可以通过增加1dB。
* 7：在（1525纳米至1530纳米）的波长范围内插入损耗可以通过0.5分贝增加。
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日本santec光电探测器，尾纤光电探测器MPA-100
MPA-100是尾纤光电探测器阵列的机架安装产品。
【特征】
总览
MPA-100是尾纤光电探测器阵列的机架安装产品。监视从MPO / MTP多核连接器输入的多个光功率信号。您可以选择检测850 nm波长带的硅类型和检测1260至1610 nm波长带的InGaAs型光学检测器。光学电流从USB端子通过内置的16位多信号DAQ接口输出。产品尺寸为（W）482.6 x（D）430 x（H）44 mm，并且超薄1U标准高度集成。MPA-100能够监视多达80个通道的光功率，具有出色的性价比和较小的安装空间。MPA-100适合用于数据通信中使用的IEEE 802.3 ba标准的40 GbE / 100 GbE光传输设备/设备的光功率监控器监视，例如SR4，SR10，LR4，ER4等，以及收发器产品检查。除尾纤光电探测器外，MPA-100还支持抽头PD光电探测器阵列，该阵列可监视例如5％的输入光，并通过光纤将其余的光返回。
达到1/10的性价比（与一般的光功率测量仪器相比）
集成度提高10倍（与普通光功率测量仪器相比）
运用
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日本santec多端口光功率计，非常适合评估光学组件MPM-210 / MPM-211、212、213
高速测量多端口光学组件的光学特性
总览
MPM-210非常适合多端口光学组件（例如波长选择开关（WSS）和AWG模块）的插入损耗和WDL / PDL测量。通过与配备有功率监控器输出的可变波长光源（TSL系列）结合使用，可以实时消除光源的光输出波动，并可以进行高精度的损耗测量。
有关光学性能评估系统的更多信息，请参见扫描测试系统??。
特性
运用
规范
主机架 MPM-210
参数 | 单元 | 规格规格 | 笔记 | |
模块编号 | – – | 最多5 | ? | |
接口 | 对于功率计 | – – | GP-IB，以太网，RS-232C | ? |
? | 对于系统 | – – | USB | ? |
触发输入 | – – | TTL（3.3伏） | BNC | |
触发输出 | – – | TTL（3.3伏） | BNC | |
电源监控器 | V | 0至3 | BNC | |
电源电压 | V | AC 100至240，50/60 Hz | ? | |
最大耗电量 | VA | 50 | ? | |
工作温度 | 度 | 10至40 | ? | |
工作湿度 | %% | <80 | 不凝结 | |
重量 | 公斤 | 6 | ? | |
尺寸（W）x（D）x（H） | 毫米 | 210 x 350 x 133 | ? | |
功率计模块，MPM-211（4ch），MPM-212（2ch）
参数 | 单元 | MPM-211 | MPM-212 | 笔记 |
感应元件 | – – | 铟镓砷 | ? | |
波长范围 | 纳米 | 1250至1680 | ? | |
规格波长范围 | 纳米 | 1250至1630 | ? | |
功率动态范围 | 分贝 | --80至+ 10 | ? | |
最大安全功率 | 分贝 | + 16 | ? | |
总体不确定性 | %% | +/- 5 @ -60至9 dBm | ? | |
功率分辨率 | D b | 0.001 | ? | |
线性* 1 | D b | +/- 0.03 @ -55至9 dBm | 平均时间> 100毫秒 | |
偏振相关的响应度（典型值）* 1，2 | D b | <0.025 | 1525至1585 nm | |
? | ? | <0.03 | @ 1270至1630 nm | |
平均时间 | 秒 | 10μ至10 | ? | |
每个模块的端口号 | – – | 4个端口 | 2个端口 | ? |
模拟输出* 3 | ? | 没有 | 带 | ? |
数据记录能力 | – – | 每个端口1,000,000 x 2缓冲区 | ? | |
连接器类型 | – – | 足球俱乐部 | ? | |
工作温度 | 度 | 10至40 | ? | |
工作湿度 | %% | <80 | 不凝结 | |
尺寸（W）x（D）x（H） | 毫米 | 30.3 x 183.5 x 114.8 | 不包括连接器。 | |
* 1：温度：23 +/- 5摄氏度
* 2：SMF，直插
* 3：输出电压0至2 V，测量动态范围> 30 dB（典型值）
电流表模块，MPM-213
参数 | 单元 | 新型号，MPM-213 | 笔记 |
当前动态范围 | dBmA的 | --70至+ 10 | 100 pA至10 mA |
最大安全功率 | dBmA的 | 16 | ? |
总体不确定性 | %% | +/- 5 @ -45至9 dBm | 100 pA至10 mA |
+/- 1 @>-35 dBm（典型值） | 平均时间> 10毫秒 | ||
功率分辨率 | D b | 0.001 | ? |
线性度 | D b | +/- 0.03 | @ -45至+ 9 dBmA，平均时间> 10毫秒 |
平均时间 | 秒 | 10μ至10 | ? |
每个模块的端口号 | – – | 4个端口 | ? |
数据记录能力 | – – | 每个端口1,000,000 x2 | ? |
连接器类型 | – – | BNC连接器 | ? |
反向偏置电压 | V | – – | ? |
工作温度 | 度 | 10至40 | ? |
工作湿度 | %% | <80 | 不凝结 |
尺寸（W）x（D）x（H） | 毫米 | 30.3 x 183.5 x 114.8 | 不包括连接器。 |
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日本santec光学元件扫描测试系统，光学特性检查装置
通过结合可变波长光源（TSL系列），功率计（MPM），偏振控制单元（PCU-100）和定制软件，在研发和生产线上对IL / WDL / PDL进行有效的测量和评估你能行的。
通过将扫频测试系统与多分支单元相结合，可以进一步提高检查和评估的效率。
总览
扫频测试系统结合了可变波长光源（TSL系列），多端口功率计（MPM系列），偏振控制单元（PCU-100）和专用软件，是光学设备和生产现场研发的理想选择。这是一个评估工具。通过实时参考可变波长光源的输出功率同时获取通过DUT传输的光功率，可以高精度地测量IL / WDL / PDL。该系统使用穆勒矩阵方法来计算PDL。
特性
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我们的可变波长光源TSL系列配备了具有创新设计的谐振器，可减少ASE光学噪声，同时实现很高的信噪比和很高的光学输出功率。因此，该系统可以同时评估具有高动态范围特性的光学组件的多个端口的特性。
下图分别显示了CWDM滤波器和陷波滤波器（例如FBG）的测量数据。
由于TSL系列标配了波长监视器，因此可以高精度地测量光学组件。
下图显示了乙炔（12C2H2）气体吸收线的测量波长，可以看出以极高的测量精度可以进行测量。
该系统不仅可以用于WDM的光学组件，而且可以用于窄线宽滤光片，以高波长分辨率测量WDL和PDL。
该图是超高Q容量设备的测量结果，您可以看到它可以以0.1 pm或更小的分辨率进行测量。
运用
多站点检测
在多站测量系统中，可变波长光源，偏振控制器和多分支单元用作服务器，并且光和触发信号从它们分支并发送到每个站。每个站仅包含一个功率计和一台PC。
在测量期间，服务器的可变波长光源连续扫描预定范围。因此，每个站可以随时独立于其他站进行测量。
这样，该系统可以在保持高精度特性的同时进一步提高检查和评估的效率。
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