联系人：黄桂宇
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电话：15818790182
地址： 广东深圳市龙华区山咀头创客大厦
| 产地 |
日本 |
是否进口 |
否 |
| 订货号 |
22 |
品牌 |
santec |
| 货号 |
23 |
型号 |
MPM-210/MPM-211、212、213 |
| 光源类型 |
LED灯 |
光源功率 |
200000 |
| 灯罩型式 |
玻璃 |
光源型号 |
KTL-350 |
| 光源颜色 |
正白 |
光通量 |
8 |
| 工作电压 |
220 |
灯头规格 |
E14 |
| 镇流器型号 |
23 |
触发器型号 |
21 |
| 主要适用范围 |
图像检查 |
加工定制 |
否 |
| 是否跨境出口专供货源 |
否 |
规格 |
白色 |
| 是否一般纳税人 |
否 |
认证 |
无 |
| 是否有专利 |
否 |
合格纤维带 |
可能达到φ20mm |
| 调光方式 |
电压调光 |
照明方式 |
直流照明 |
日本santec多端口光功率计，非常适合评估光学组件MPM-210 / MPM-211、212、213
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高速测量多端口光学组件的光学特性
总览
MPM-210非常适合多端口光学组件（例如波长选择开关（WSS）和AWG模块）的插入损耗和WDL / PDL测量。通过与配备有功率监控器输出的可变波长光源（TSL系列）结合使用，可以实时消除光源的光输出波动，并可以进行高精度的损耗测量。
有关光学性能评估系统的更多信息，请参见扫描测试系统??。
特性
运用
规范
主机架 MPM-210
参数 | 单元 | 规格规格 | 笔记 | |
模块编号 | – – | 最多5 | ? | |
接口 | 对于功率计 | – – | GP-IB，以太网，RS-232C | ? |
? | 对于系统 | – – | USB | ? |
触发输入 | – – | TTL（3.3伏） | BNC | |
触发输出 | – – | TTL（3.3伏） | BNC | |
电源监控器 | V | 0至3 | BNC | |
电源电压 | V | AC 100至240，50/60 Hz | ? | |
最大耗电量 | VA | 50 | ? | |
工作温度 | 度 | 10至40 | ? | |
工作湿度 | %% | <80 | 不凝结 | |
重量 | 公斤 | 6 | ? | |
尺寸（W）x（D）x（H） | 毫米 | 210 x 350 x 133 | ? | |
功率计模块，MPM-211（4ch），MPM-212（2ch）
参数 | 单元 | MPM-211 | MPM-212 | 笔记 |
感应元件 | – – | 铟镓砷 | ? | |
波长范围 | 纳米 | 1250至1680 | ? | |
规格波长范围 | 纳米 | 1250至1630 | ? | |
功率动态范围 | 分贝 | --80至+ 10 | ? | |
最大安全功率 | 分贝 | + 16 | ? | |
总体不确定性 | %% | +/- 5 @ -60至9 dBm | ? | |
功率分辨率 | D b | 0.001 | ? | |
线性* 1 | D b | +/- 0.03 @ -55至9 dBm | 平均时间> 100毫秒 | |
偏振相关的响应度（典型值）* 1，2 | D b | <0.025 | 1525至1585 nm | |
? | ? | <0.03 | @ 1270至1630 nm | |
平均时间 | 秒 | 10μ至10 | ? | |
每个模块的端口号 | – – | 4个端口 | 2个端口 | ? |
模拟输出* 3 | ? | 没有 | 带 | ? |
数据记录能力 | – – | 每个端口1,000,000 x 2缓冲区 | ? | |
连接器类型 | – – | 足球俱乐部 | ? | |
工作温度 | 度 | 10至40 | ? | |
工作湿度 | %% | <80 | 不凝结 | |
尺寸（W）x（D）x（H） | 毫米 | 30.3 x 183.5 x 114.8 | 不包括连接器。 | |
* 1：温度：23 +/- 5摄氏度
* 2：SMF，直插
* 3：输出电压0至2 V，测量动态范围> 30 dB（典型值）
电流表模块，MPM-213
参数 | 单元 | 新型号，MPM-213 | 笔记 |
当前动态范围 | dBmA的 | --70至+ 10 | 100 pA至10 mA |
最大安全功率 | dBmA的 | 16 | ? |
总体不确定性 | %% | +/- 5 @ -45至9 dBm | 100 pA至10 mA |
+/- 1 @>-35 dBm（典型值） | 平均时间> 10毫秒 | ||
功率分辨率 | D b | 0.001 | ? |
线性度 | D b | +/- 0.03 | @ -45至+ 9 dBmA，平均时间> 10毫秒 |
平均时间 | 秒 | 10μ至10 | ? |
每个模块的端口号 | – – | 4个端口 | ? |
数据记录能力 | – – | 每个端口1,000,000 x2 | ? |
连接器类型 | – – | BNC连接器 | ? |
反向偏置电压 | V | – – | ? |
工作温度 | 度 | 10至40 | ? |
工作湿度 | %% | <80 | 不凝结 |
尺寸（W）x（D）x（H） | 毫米 | 30.3 x 183.5 x 114.8 | 不包括连接器。 |
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日本santec光学元件扫描测试系统，光学特性检查装置
通过结合可变波长光源（TSL系列），功率计（MPM），偏振控制单元（PCU-100）和定制软件，在研发和生产线上对IL / WDL / PDL进行有效的测量和评估你能行的。
通过将扫频测试系统与多分支单元相结合，可以进一步提高检查和评估的效率。
总览
扫频测试系统结合了可变波长光源（TSL系列），多端口功率计（MPM系列），偏振控制单元（PCU-100）和专用软件，是光学设备和生产现场研发的理想选择。这是一个评估工具。通过实时参考可变波长光源的输出功率同时获取通过DUT传输的光功率，可以高精度地测量IL / WDL / PDL。该系统使用穆勒矩阵方法来计算PDL。
特性
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我们的可变波长光源TSL系列配备了具有创新设计的谐振器，可减少ASE光学噪声，同时实现很高的信噪比和很高的光学输出功率。因此，该系统可以同时评估具有高动态范围特性的光学组件的多个端口的特性。
下图分别显示了CWDM滤波器和陷波滤波器（例如FBG）的测量数据。
由于TSL系列标配了波长监视器，因此可以高精度地测量光学组件。
下图显示了乙炔（12C2H2）气体吸收线的测量波长，可以看出以极高的测量精度可以进行测量。
该系统不仅可以用于WDM的光学组件，而且可以用于窄线宽滤光片，以高波长分辨率测量WDL和PDL。
该图是超高Q容量设备的测量结果，您可以看到它可以以0.1 pm或更小的分辨率进行测量。
运用
多站点检测
在多站测量系统中，可变波长光源，偏振控制器和多分支单元用作服务器，并且光和触发信号从它们分支并发送到每个站。每个站仅包含一个功率计和一台PC。
在测量期间，服务器的可变波长光源连续扫描预定范围。因此，每个站可以随时独立于其他站进行测量。
这样，该系统可以在保持高精度特性的同时进一步提高检查和评估的效率。
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日本santec紧凑且高度可靠的的可变波长光源WSL-110
可实现高光输出和波长精度的可变步长模型
总览
WSL-110可用于各种应用，例如DWDM系统评估和相干传输实验。WSL-110的功能是无网格调谐，可以将其设置为任何波长。
特性
运用
规范
参数 | 单元 | 无网格调整 | ||
波长 | ? | C波段 | L波段 | |
波长范围 | 纳米 | 1527.60至1565.50 | 1568.77至1608.76 | |
频率范围 | 太赫兹 | 191.50至196.25 | 186.35至191.1 | |
通道间距 | GHz的 | 25（任何频率可用） | ||
频率解析度 | 兆赫 | 100（0.850 pm在1550 nm） | ||
ITU电网的频率精度 | GHz的 | <±2.5 /±1.0（典型值） | ||
? | 下午 | <±20 /±8（典型值） | ||
ITU电网的频率重复性* 1 | GHz的 | ±0.25（典型值） | ||
? | 下午 | ±2（典型值） | ||
1小时* 1时?ITU电网的频率稳定性 | GHz的 | ±0.25（典型值） | ||
? | 下午 | ±2（典型值） | ||
微调分辨率 | 兆赫 | 1（典型值） | ||
微调范围 | GHz的 | ±6 | ||
输出功率调整范围 | 分贝 | 9.5至15.5 | 8.5至14.5 | |
功率变化* 2 | D b | ±0.2（典型值） | ||
功率稳定性@?1小时* 1，* 2 | D b | ±0.01（典型值） | ||
谱线宽度 | 千赫 | <100 | ||
侧面模式抑制比（SMSR） | D b | > 40/55（典型值） | ||
相对强度噪声* 3 | 分贝/赫兹 | --145（典型值） | ||
偏振消光比* 4 | D b | 20（典型值） | ||
光学输出连接器 | – – | FC / APC或SC / APC | ||
接口 | – – | GP-IB，USB | ||
操作 | 温度 | ℃ | 15至35 | |
? | 湿度 | %% | <80 | |
电源供应 | 电压 | V | AC 100至240 V（±10％） | |
? | 频率 | 赫兹 | 50/60 | |
尺寸（宽x深x高） | 毫米 | 210 x 300 x 80 | ||
重量 | 公斤 | 3 | ||
?
*：所有规格均在预热1小时后引用
* 1：在恒定温度±0.5 K下
* 2：通过带角度抛光连接器的光纤测量* 3：10
MHz至3 GHz
* 4：慢速轴，角度精度<10度
日本santec超宽带全频段的可变波长光源全频段TSL
覆盖高达420 nm的宽带
总览
全波段TSL由一个光开关模块（OSU-100），最多4个可变波长光源（TSL-710?/?TSL-550）和控制软件组成。
可以以较高的波长精度进行高速波长扫描。它具有出色的成本性能，可用于研发目的和生产线。
特性
运用
规范
类别 | 参数 | 单元 | 性能 | |
可调激光 | 所有规格 | – – | 有关完整规格，请参考TSL-550或TSL-710目录。 | |
光开关 OSU-100 | 波长调谐范围 | 纳米 | 1260至1680 | |
| 最大调整范围 | 纳米 | 420 | ||
| 插入损耗* 1 | D b | <2.5（典型1.0）@SMF或<3（典型1.5）@PMF | ||
| 插入损耗稳定性* 2（典型值） | D b | ±0.01 | ||
| 重复性（典型值） | D b | ±0.01 | ||
| 串扰（典型值） | D b | --55 | ||
| 最大输入功率（光） | 兆瓦 | 300 | ||
| 回波损耗（典型值） | D b | > 50 | ||
| 使用寿命（典型值） | 周期 | > 100,000,000 | ||
| 切换时间（典型值） | 多发性硬化症 | 五 | ||
| 光纤 | – – | SMF或PMF?* 3 | ||
| 光学输出连接器 | – – | FC / APC或SC / APC | ||
| 通讯 | – – | USB（USB 2.0高速） | ||
| 操作 | 温度 | 摄氏度 | 15至35 | |
| 湿度 | %% | <80（非冷凝） | ||
| 电源供应 | – – | AC 100至240 V±10％，50/60 Hz | ||
| 尺寸（宽x深x高） | 毫米 | 210 x 350 x 88 | ||
| 重量 | 公斤 | 3.1 3.1 | ||
*所有规格均在预热1小时后引用。
* 1：从1260至1630 nm
* * 2：持续1小时。在±0.5°C内
* 3：对于PMF，极化消光比为17 dB（典型），偏振轴与连接器键对准
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日本santec实现高光输出的可变波长光源TSL-550
实现高光输出和信噪比，以及丰富的波长变化
总览
TSL-550采用了创新的外部谐振器，既满足90 dB / 0.1 nm或更高的极高信噪比，又满足+10 dBm或更高的高输出。具备微调控制和相干控制等功能，是进行精确特性评估的必不可少的工具。通过组合
多端口功率计MPM系列，偏振控制器PCU-100和专用软件，可以进行光学特性评估（IL，WDL，PDL）。有关光学表征系统的更多信息，请参见扫描测试系统。
特性
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运用
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日本santec高精度波长的可变波长光源TSL-710
实现窄谱线宽度，高波长精度和分辨率
总览
TSL-710采用了创新的外部谐振器，既可以满足90 dB / 0.1 nm或更高的极高信噪比，又可以满足+10 dBm或更高的高输出功率。另外，通过安装高精度的波长监视器，可实现±2 pm的高波长精度和0.1 pm的高波长分辨率的出色波长特性。通过结合
我们的多端口功率计MPM系列，偏振控制器PCU-100和专用软件，可以进行光学特性评估（IL，WDL，PDL）。有关光学表征系统的更多信息，请参见扫描测试系统。
特性
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运用
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日本santec高速，高性能的可变波长光源TSL-770
两倍于常规模型的速度，窄谱线宽度
总览
该产品可以将宽带波长更改为最大160 nm，从而可以提高吞吐量和测量精度。这使其成为各种应用（例如生产，研发和基础研究）的理想工具。此外，通过采取措施防止光学系统的振动并降低控制系统中的噪声，既实现了窄谱线宽度和高频稳定性，这是外部谐振器型波长可变光源的特征，并且实现了诸如硅光子学之类的极高波长。它也可以用于需要准确性的前沿研究领域。
特性
运用
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15818790182