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| 品牌 |
辅光仪器 |
型号 |
FPGIG-GTL |
| 封装/规格 |
标准封装 |
包装 |
盒装 |
| 最小包装量 |
1 |
材质 |
铝合金 |
| 重量 |
0.2kg |
加工定制 |
是 |
| 是否进口 |
是 |
产地 |
欧洲 |
| 货号 |
FPGIG-GTL |
用途 |
适合晶圆BGAPCB背板测试 |
| 适用场合 |
电子元器件测试 |
产品类型 |
单射频探针 |
| 功能 |
微波探测 |
产品特性 |
高灵敏度 |
| 适用行业 |
电子测试 |
使用方式 |
手持或固定 |
| 接口类型 |
标准接口 |
电源电压 |
标准电压 |
| 工作温度 |
常温 |
存储温度 |
常温 |
| 相对湿度 |
常规湿度 |
安全认证 |
通过安全认证 |
| 保修期 |
一年 |
|
单射频探针GTL是一款微波探针,用于在晶圆、封装、BGA、PCB、插座、背板、高密度互连等上进行探测时，可提供zhuo越的电气性能和wu与伦比的耐用性。
单射频探针GTL具有高公差，加固的探针头支持其重复接触并获取高质量数据。
单射频探针GTL规格参数
| 电学性能 | 40 GHz Probe | 65 GHz Probe |
|---|---|---|
| 阻抗 | 50 Ohms | 50 Ohms |
| 频率范围 | DC to 40 GHz | DC to 65 GHz |
| 返回损失: | -15 dB | -15 dB |
| 插入损耗 | 1.5 dB | 1.5 dB |
| 力学性能 | 40 GHz Probe | 65 GHz Probe |
|---|---|---|
| 探针尖配置 | GS | SG | GSG | GS | SG | GSG |
| 兼容电缆 | SMA, 3.5mm, and 2.92mm Cables | 2.4mm Cables and 1.85mm Cables |
| 连接头力矩 | 10 inch-lbs | 10 inch-lb |
| 保准销: | 100μ, 150μ, 200μ, 250μ, 300μ, 450μ, 500μ, 600μ, 750μ, 1000μ
| 100μ, 150μ, 200μ, 250μ, 300μ, 450μ, 500μ, 600μ, 750μ, 1000μ
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