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| 品牌 |
孚光精仪 |
型号 |
FPIMI-MICRO |
| 系列 |
微操纵仪器系列 |
包装 |
盒装 |
| 零件状态 |
全新 |
类型 |
热敏电阻 |
| 应用领域 |
微操作微操纵 |
尖头-类型 |
微探针 |
| 插头类型 |
标准插头 |
探头温度范围 |
常温 |
| 电缆长度 |
标准长度 |
电缆绝缘 |
标准绝缘 |
| 插头颜色 |
黑色 |
探头长度 |
微米级 |
| 探头材料 |
不锈钢 |
最小包装量 |
1台 |
| 配置 |
可配备4个微操纵器模块 |
功能 |
晶圆测试、亚微米尺度电学性能测试 |
| 特色 |
热和加热功能集成方案 |
产品优势 |
适合较小的半导体器件的测试 |
微探针台系统micro probe system可植入显微镜中,把显微镜改造成探针台系统,实现微操作和微测量功能。
微探针台系统能够把现有光学显微镜升级成高精度和高稳定性的压电微操纵仪器,非常适合紧凑空间和较短工作距离的显微镜使用。适合如下种类的显微镜：
正置显微镜和倒置显微镜
探针台
半导体检测仪器
原子力显微镜
手套箱和各种环境箱
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这款微探针台系统非常适合较小的半导体器件的测试,可配备4个微操纵器模块，可用于电控放大倍数的显微镜和XY样品台。
这款微探针台系统可以根据应用要求进行晶圆测试配置，满足亚微米尺度电学性能测试需要。我们可为您提供XYZ晶圆加载卡盘，提供制冷和加热功能等集成方案。
微探针台系统典型应用
电学微探针：测量半导体器件或晶圆的电学性能
材料测试：测试新材料的电学性能
微操纵：对微小器件进行微操作微操纵
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