联系人：陈经理
邮箱：info@f-lab.cn
电话：18326124276
地址： 上海浦东新区上海自由贸易试验区德堡路38号2幢楼三层
| 品牌 |
孚光精仪 |
是否支持加工定制 |
是 |
| 是否进口 |
是 |
LCD显示更新 |
是 |
| 安装方式 |
自动 |
包装规格 |
很快 |
| 材料 |
晶体硅 |
测定时间 |
快速 |
| 测量范围 |
少子寿命 |
电源 |
AC220 |
| 分辨率 |
高 |
工作电压 |
220 |
| 计数范围 |
广 |
检测低限 |
低 |
| 检测厚度 |
标准 |
检测精度 |
高 |
| 结构型式 |
便携式 |
可测样品状态 |
固态 |
| 类型 |
少子寿命测试仪 |
频率范围 |
宽频 |
| 适用范围 |
电子材料测试 |
适用介质 |
半导体材料 |
| 适用样品 |
晶圆晶锭 |
用途范围 |
科研实验 |
晶圆晶锭寿命测定仪是为晶圆晶锭测量少子寿命、光电导率、电阻率和样品平整度及p/n检查任务设计的晶圆晶锭少子寿命测试仪器。采用非接触式检测和无损成像（μPCD /MDP(QSS)）设计。
(上述价格不准确，请您联系我们获得准确报价）
?
晶圆晶锭寿命测定仪应用
单晶晶圆寿命，多晶晶圆寿命和晶锭寿命测量
适合硅,化合物半导体,氧化物,宽禁带,钙钛矿材料
[ CdTe | InP | ZnS | SiC | GaAs | GaN | Ge ]
晶圆晶锭寿命测定仪规格参数
产量：>240块/天或>720片/天
测量速度：对于156x156x400mm标准晶锭，<4分钟
良品率提升：1mm切割标准为156x156x400mm标准晶锭
质量控制：用于过程和材料的质量监控，如单晶硅或多晶硅
沾污检测：起源于坩埚和生产设备的金属(Fe)
可靠性：模块化和坚固耐用的工业仪器，更高可靠性，运行时间> 99%
可重复性:> 99.5%
电阻率：可做面扫描，不需经常校准
18326124276