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地址： 上海浦东新区上海自由贸易试验区德堡路38号2幢楼三层
| 品牌 |
孚光精仪 |
型号 |
FPAPO-MJ-8 |
| 重量 |
23kg |
加工定制 |
是 |
| 封装/规格 |
真空变温探针台 |
包装 |
专业防震包装 |
| 最小包装量 |
1台 |
应用环境 |
真空环境 |
| 功能 |
晶圆测试 |
服务 |
定制加工服务 |
| 产品特点 |
变温功能 |
适用领域 |
电子元器件测试 |
| 使用方式 |
探针接触测试 |
温度控制 |
支持变温控制 |
| 测试类型 |
真空晶圆测试 |
设备类型 |
探针台 |
| 品牌系列 |
孚光精仪品牌系列 |
是否支持定制 |
支持 |
| 商品类型 |
实验器材 |
适用场景 |
科研实验、产品质检 |
| 操作方式 |
手动/自动可选 |
兼容性 |
兼容多种测试设备 |
| 稳定性 |
高稳定性设计 |
测试精度 |
高精度测试 |
这款真空变温探针台是专门变温真空晶圆流测试设计的专门变温真空探针台,满足晶圆变温光电测试需要,测试温度范围达到液氮温度 -180℃~600℃,特别适合极高温和极低温环境下晶圆真空变温测试和射频测试。
真空变温探针台特点
测试温度：-180℃~600℃
适合高功率器件测试20kV DC/200A
即使在真空状态下，也可以使用外部操作型定位Qi（探头）移动致动器
良好的光和电屏蔽效果
MJ-8型探针台可用于霍尔效应测量
网页上的价格是参考价格，未必准确，准确的价格信息请联系我们索取。
真空变温探针台应用
Low level IV (fA)和Low level CV (fF)
高功率器件探针测试：20KV DC/200A
RF射频测试
高功率器件测试20kV DC/200A
极高温和极低温晶圆温度特性测试
气体环境测试
真空变温探针台可选配件
冷热台 -180℃~+600°C
各种光源
三目显微镜（标配体视显微镜）
CCD相机
Probe card (4.5 inch square PCB)
真空变温探针台可连接配合的测试仪器
设备分析仪/参数分析仪
功率器件分析仪
源度量单位
曲线跟踪器
精密LCR仪表
数字万用表
阻抗分析仪
网络分析器
真空变温探针台规格参数
| 型号 | MJ-8 | MJ-10 |
| 晶圆卡片尺寸 | 20x20mm | φ60㎜ |
| 真空度（使用涡轮泵） | 10?3 Pa | 10?3 Pa |
| 腔室尺寸 | φ116×30㎜（H） | φ216×138㎜（H） |
| 探针移动距离 | ：5㎜ Y：5㎜ Z：3㎜
| ：8㎜ Y：5㎜ Z：8㎜ |
| 探针工作范围 | :~18㎜ Y:~15㎜ | :~40㎜ Y:~20㎜ |
| θ分辨率 | 0.001度 | 0.000022294deg |
18326124276