联系人：陈经理
邮箱：info@f-lab.cn
电话：18326124276
地址： 上海浦东新区上海自由贸易试验区德堡路38号2幢楼三层
| 品牌 |
孚光精仪 |
型号 |
FPALP-S-LMS |
| 运转方式 |
连续式 |
激励方式 |
光泵式 |
| 输出功率 |
未提供，需查询具体规格书 |
中心波长 |
根据波段范围可定制 |
| 阈值电流 |
根据具体型号而定 |
光路径 |
根据应用需求定制 |
| 颜色分类 |
根据波段范围可见光定制 |
斜率效率 |
依据型号和应用环境而定 |
| 偏振消光比 |
根据具体规格和应用需求 |
波段范围 |
可见光 |
| 相对强度噪声 |
依据具体型号规格而定 |
边模抑制比 |
根据激光器具体性能参数 |
| 应用领域 |
广电通信、有线光缆设备等 |
产品特点 |
适合激光故障注入测试 |
| 商品类型 |
激光故障注入系统 |
使用方式 |
连续工作 |
| 光源类型 |
激光 |
是否进口 |
否 |
| 适用场景 |
实验室、研发测试等 |
|
激光故障注入系统是为集成电路安全性设计的高精度laser fault injection系统和激光故障注入显微镜,方便对集成电路进行激光故障注入测试分析。
激光故障注入系统可把激光点聚焦到芯片上,从后侧扫描样品,进而电子元器件的安全水平。
激光故障注入系统具有1微米的激光点精度
该系统集成的激光器经过特殊光路设计后，最小激光点可达1微米,透过率可达90%，PDM激光源（Pulse-On-Demand Module）可达极小的圆形光点，可聚焦到电子元器件的有效面积上。这套激光故障注入系统还可以根据用户要求，配备高分辨率YZ三维位移台,支持样品扫描精度可达50nm.
激光故障注入系统采样高精度激光器
该系统采样的激光器具有超高时序控制精度，时间抖动<8皮秒,对于激光注入到电路板上的同步控制非常重要。这种激光器还可以根据实验需要提供1ns脉冲到连续波激光的变化,从单次发射脉冲到250MHZ的重复频率。根据不同的硅片或电路样品，我们可提供980nm 或1064nm波长激光器，激光功率2W·10W。
激光故障注入系统具有高质量红外视图
该系统具有高质量红外光和红外成像功能,配备高分辨率IR红外相机,获得高质量的芯片图片，甚至可传统数百微米的硅片成像，还能同时看到在样品上移动的激光点。
激光故障注入系统具有多种镜头可选择
该系统可配备多种镜头，提供不同的焦距和光学图片质量，高数值孔径的镜头提供更高分辨率和透过率。可提供手动的4镜头位置转塔和电控的5镜头位置转塔，可选择50镜头获得最小激光斑点，也可选择2.5镜头获得较大的激光斑点。
激光故障注入系统是交钥匙系统
该系统经过系统设计，到货即可实验。我们还可以根据用户应用订制该系统，我们还可以提供光电发射Photoemission和热激光刺激thermal laser simulation功能集成。
激光故障注入系统特点
可透过硅和激光斑点同时观察
空间分辨率高达1微米
可提供980nm激光或1064nm激光
激光脉宽可从亚纳秒到连续波供用户选择
时序精度高达<8ps
重复频率高达250MHZ
透过率高达92%
同轴红外IR视图功能
自动扫描YZ电控位移台
芯片的背部红外视图和激光斑点
激光故障注入系统规格参数
激光器部分参数
脉宽：1.5ns 到连续波
峰值功率：3.2W （可选10W)
激光波长：980nm或1064nm
重复频率：单发射到250MHZ
控制命令接口：TTL/LVTTL
光束质量：单模
透过率：>92%
视图观察部分
视图：高分辨率红外相机640x512um, 140dB动态范围
定位台部分
轴数：YZ三轴
行程：52mm
分辨率：0.315um
重复精度：+/-0.8um
速度：20mm/s
物镜部分
2.5, 20,50
18326124276