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| 品牌 |
孚光精仪 |
型号 |
FPTOK-Poxi |
| 系列 |
I940-2902 |
零件号别名 |
3 |
| 半导体材料 |
氮化镓 |
厂家 |
www.felles.cn/polarimeter.html |
| 单位重量 |
以实际称重为准 |
包装 |
原装包装 |
| 最小包装量 |
1 |
测量范围 |
根据具体型号而定 |
| 精度 |
高精度 |
分辨率 |
根据具体型号而定 |
| 响应时间 |
快速响应 |
工作温度 |
常温 |
| 接口类型 |
标准接口 |
电源类型 |
直流电源 |
| 功耗 |
低功耗 |
产品特性 |
光谱偏振测量,高精度,快速响应 |
| 应用领域 |
科研、工业、医疗等领域 |
兼容系统 |
多种操作系统兼容 |
| 数据传输方式 |
有线传输 |
显示方式 |
数字显示 |
| 校准方式 |
自动校准 |
售后服务 |
厂家提供售后服务 |
斯托克斯偏振测量仪是多功能光谱偏振仪,Spectroscopic Polarimeter,可测量400nm~800nm范围每个波长的偏振态。该斯托克斯偏振测量仪还具有双折射、穆勒矩阵测量和映射mapping测量等功能,非常适合液晶显示器、投影仪、偏振光学元件、偏振光学、晶体、生物样品、荧光偏振等偏振态测量分析。
斯托克斯偏振测量仪特点
?无需校准,仪器在整个波长范围内进行了校准。
?波长分辨率高达2nm,采用分光计代替带通滤波片。
?可测量发散角和散射光,不仅可以测量准直光,还可以测量各种物质发光和反射光。
?用户友好软件,控制软件非常易用,便于用户控制和查找结果,测量结果存储在csv文件中。
网页上的价格是参考价格,未必准确,准确的价格信息请联系我们索取。
各种偏振能力测量
?双折射测量:在0~10万nm量级范围内,可同时测量快轴方向和延迟量。
?穆勒矩阵测量:可以进行更高水平的偏振分析。
?Mapping绘图能力:自动Y工作台可选配,方便样品偏振特性的分布。
客户订制化系统
我们可以对标准斯托克斯偏振测量仪 按照客户要求进行定制,比如紫外-近红外(UV-NIR)偏振态测量仪、用于测量微弱光的高灵敏度斯托克斯偏振测量仪系统、连接到显微镜上的斯托克斯偏振测量仪系统等等。
偏振样品的高级分析
利用外加的偏振态发生器(PSG)和软件可以测量样品的偏振特性。斯托克斯偏振测量仪的PSG和测量头单元可自由布置。它为需要构建适合多种应用的测量系统的用户提供了方便。从测量的几个stokes参数可以计算出如下偏振特性。
线二色性——线偏振光吸收
圆二色性——圆偏振光的吸收
线性双折射——相移(线性?圆偏振)
旋光——线偏振的旋转
去极化——降低DOP的能力
斯托克斯偏振测量仪规格
测量参数 斯托克斯参数(S0,S1,S2,S3),椭圆度,偏振方向,偏振度(DOP,DOLP,DOCP),偏振消光比
数据绘图 图形(波长v.s.参数),图形(数据点v.s.参数数量),庞加莱球,Ellips视图,警报(低光,饱和时)
特色功能 单次扫描,连续扫描,确认扫描,自动曝光
斯托克斯偏振计
波长范围 400~800nm
波长分辨率 <2nm
波长数 1500
最小测量时间 6秒
高精度模式测量时间 >20秒
精度 <2%
重复精度 0.01@3σ(斯托克斯参数)
方向精度 ±0.2度(基准面为底面)
测量原理 波片旋转、波片和分析仪旋转
双折射偏振计
原理 双斯托克斯数据分析
波长 与斯托克斯偏振计相同
测量时间 斯托克斯测量值的2倍
迟滞范围 0~λ/2纳米,使用拟合方法,zui大值为100000nm
快速轴范围 ±90度
重复性 1度(延迟)
穆勒矩阵偏振计
原理 四斯托克斯数据分析
波长 与斯托克斯偏振计相同
测量时间 斯托克斯测量值的4倍
重复性 ±0.01(16个矩阵元素)
数据分析 线性二向衰减,圆形二向衰减,线性双折射,圆双折射,去偏振