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DataRay?狭缝扫描式光束质量分析仪
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l??????????????????????设计工作波长190至 1150nm
l??????????????????????可测量光束直径为?2μm 至 4mm
l??????????????????????提供功能强大且易于使用的控制软件
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产品介绍
DataRay?狭缝扫描式光束质量分析仪所使用的硅基探测器使得它比较好的适用于 190nm 至 1150nm 范围内的检测。 Beam'R2 配备 2.5 微米狭缝和更大的刀刃狭缝，能够测量直径小至 2μm 的光束。狭缝扫描式光束质量分析仪的分辨率比相机式系统高得多，而且兼容连续激光和脉冲激光。 DataRay?狭缝扫描式光束质量分析仪是光学组装和仪器对准、对焦和对准误差的实时诊断、实现多个组件实时共聚焦控制的理想选择。这些分析仪由 USB 2.0 供电，包括一条 3 米长的 USB 2.0 电缆。
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产品信息
标题 |
产品编码 |
BeamR2-Si Scanning Slit Beam Profiler |
24-215 |
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15933752505