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定标镜台测微分划板
定标镜台测微分划板有一系列的“H”形基准图象，尺寸从0.1到20mm, 采用耐磨的镀铬膜层，OD光密度> 2.0，基底材料为25 x 75 x 1.4mm，可用NIST追踪码查询测试数据。
?
Pattern Length (mm) |
Pattern Height (mm) |
Line Width (μm) |
0.10, 0.25, 0.50, 0.75 |
0.50 |
10 |
1.00, 2.50, 5.00, 7.50 |
1.00 |
20 |
10.0, 15.0, 20.0 |
3.00 |
40 |
?
订购信息：
Reticle Calibration Stage Micrometer
库存#59-280技术参数与相关资料
尺寸 (mm) |
25 W x 75 L x 1.4 T |
光密度 OD |
>2.0 |
Pattern Length (mm) |
0.1 - 20.0 |
基底 |
Durable Chromium Coating on Glass |
RoHS |
符合标准 |
?
Reticle Calibration Stage Micrometer, NIST traceable
库存#59-281技术参数与相关资料
尺寸 (mm) |
25 W x 75 L x 1.4 T |
光密度 OD |
>2.0 |
Pattern Length (mm) |
0.1 - 20.0 |
基底 |
Durable Chromium Coating on Glass |
RoHS |
符合标准 |
15933752505