联系人：王建辉
邮箱：276774248@qq.com
电话：15933752505
地址： 福建漳州市漳浦县官浔镇省炉村后壁美47号
直接峰值测量显微镜
PEAK直测显微镜
（1）多种放大倍率选项
（2）照明型号 备有英制或公制分划板可供选择
（3）可移除的透明亚力克底座
直接峰值测量显微镜是一款高功率的便捷式显微镜，设计用于进行的深度测量。备有一个放大倍率为10X的可调焦目镜，以及一个度达0.1mm的刻度，用于测量物体的长度、宽度或深度。其透明剖面亚力克底座允许用户在观察物体时操纵样本。照明型号提供了一个可移除的照明笔，以及两个AA电池。与硬质乙烯基包装盒一同出售。注意：不可移除或替换分划板。
?
订购信息：
#39-110 |
#39-111 |
#39-112 |
#39-113 |
|
放大率 |
25X |
50X |
75X |
100X |
视场 (mm) |
3.30 |
2.00 |
1.09 |
0.84 |
工作距离 (mm) |
17.0 |
11.7 |
11.7 |
11.6 |
刻度 (mm) |
0.05 |
0.02 |
0.01 |
0.005 |
分划板刻度 (mm) |
0 - 3.0 |
0 - 1.6 |
0 - 1.0 |
0 - 0.8 |
Depth Measurements (mm) |
Up to 22 |
Up to 22 |
Up to 22 |
Up to 22 |
尺寸 (mm) |
At Focus: 41.5 Dia. x 122 L |
At Focus: 41.5 Dia. x 122 L |
At Focus: 41.5 Dia. x 122 L |
At Focus: 41.5 Dia. x 122 L |
RoHS |
豁免 |
符合标准 |
豁免 |
豁免 |
?
Metric Reticle, 20X Peak Illuminated Direct Microscope
库存#39-763技术参数与相关资料
放大率 |
20X |
视场 (mm) |
7.2 |
工作距离 (mm) |
36.0 |
数字孔径 NA |
0.06 |
刻度 (mm) |
0.10 |
分划板刻度 (mm) |
3-0-3 |
Depth Measurements (mm) |
Up to 32 |
尺寸 (mm) |
At Focus: 63 Dia. x 172 L |
RoHS |
豁免 |
?
English Reticle, 20X Peak Illuminated Direct Microscope
库存#39-778技术参数与相关资料
放大率 |
20X |
视场 (mm) |
7.2 |
工作距离 (mm) |
36.0 |
数字孔径 NA |
0.06 |
刻度（英寸） |
0.005 |
分划板刻度（英寸） |
0 - 0.25 |
Depth Measurements (mm) |
Up to 32 |
尺寸 (mm) |
At Focus: 63 Dia. x 172 L |
RoHS |
豁免 |
?
Metric Reticle, 60X Peak Illuminated Direct Microscope
库存#39-765技术参数与相关资料
放大率 |
60X |
视场 (mm) |
2.4 |
工作距离 (mm) |
10.8 |
数字孔径 NA |
0.15 |
刻度 (mm) |
0.02 |
分划板刻度 (mm) |
1-0-1 |
Depth Measurements (mm) |
Up to 32 |
尺寸 (mm) |
At Focus: 63 Dia. x 172 L |
RoHS |
豁免 |
?
English Reticle, 60X Peak Illuminated Direct Microscope
库存#39-780技术参数与相关资料
放大率 |
60X |
视场 (mm) |
2.4 |
工作距离 (mm) |
10.8 |
数字孔径 NA |
0.15 |
刻度（英寸） |
0.001 |
分划板刻度（英寸） |
0 - 0.08 |
Depth Measurements (mm) |
Up to 32 |
尺寸 (mm) |
At Focus: 63 Dia. x 172 L |
RoHS |
豁免 |
?
Metric Reticle, 100X Peak Illuminated Direct Microscope
库存#39-766技术参数与相关资料
放大率 |
100X |
视场 (mm) |
1.45 |
工作距离 (mm) |
5.7 |
数字孔径 NA |
0.19 |
刻度 (mm) |
0.01 |
分划板刻度 (mm) |
0.6-0-0.6 |
Depth Measurements (mm) |
Up to 32 |
尺寸 (mm) |
At Focus: 63 Dia. x 172 L |
RoHS |
豁免 |
?
English Reticle, 100X Peak Illuminated Direct Microscope
库存#39-781技术参数与相关资料
放大率 |
100X |
视场 (mm) |
1.45 |
工作距离 (mm) |
5.7 |
数字孔径 NA |
0.19 |
刻度（英寸） |
0.0005 |
分划板刻度（英寸） |
0 - 0.05 |
Depth Measurements (mm) |
Up to 32 |
尺寸 (mm) |
At Focus: 63 Dia. x 172 L |
RoHS |
豁免 |
?
Metric Reticle, 150X Peak Illuminated Direct Microscope
库存#39-767技术参数与相关资料
放大率 |
150X |
视场 (mm) |
0.96 |
工作距离 (mm) |
9.2 |
数字孔径 NA |
0.24 |
刻度 (mm) |
0.005 |
分划板刻度 (mm) |
0.45-0-0.45 |
Depth Measurements (mm) |
Up to 32 |
尺寸 (mm) |
At Focus: 63 Dia. x 172 L |
RoHS |
豁免 |
?
English Reticle, 150X Peak Illuminated Direct Microscope
库存#39-782技术参数与相关资料
放大率 |
150X |
视场 (mm) |
0.96 |
工作距离 (mm) |
9.2 |
数字孔径 NA |
0.24 |
刻度（英寸） |
0.0002 |
分划板刻度（英寸） |
0 - 0.035 |
Depth Measurements (mm) |
Up to 32 |
尺寸 (mm) |
At Focus: 63 Dia. x 172 L |
RoHS |
豁免 |
?
Metric Reticle, 200X Peak Illuminated Direct Microscope
库存#39-768技术参数与相关资料
放大率 |
200X |
视场 (mm) |
0.72 |
工作距离 (mm) |
6.7 |
数字孔径 NA |
0.35 |
刻度 (mm) |
0.002 |
分划板刻度 (mm) |
0.3-0-0.3 |
Depth Measurements (mm) |
Up to 32 |
尺寸 (mm) |
At Focus: 63 Dia. x 172 L |
RoHS |
豁免 |
?
English Reticle, 200X Peak Illuminated Direct Microscope
库存#39-783技术参数与相关资料
放大率 |
200X |
视场 (mm) |
0.72 |
工作距离 (mm) |
6.7 |
数字孔径 NA |
0.35 |
刻度（英寸） |
0.0001 |
分划板刻度（英寸） |
0 - 0.024 |
Depth Measurements (mm) |
Up to 32 |
尺寸 (mm) |
At Focus: 63 Dia. x 172 L |
RoHS |
豁免 |
?
Metric Reticle, 300X Peak Illuminated Direct Microscope
库存#56-302技术参数与相关资料
放大率 |
300X |
视场 (mm) |
0.48 |
工作距离 (mm) |
4.0 |
数字孔径 NA |
0.40 |
刻度 (mm) |
0.001 |
分划板刻度 (mm) |
0.2-0-0.2 |
Depth Measurements (mm) |
Up to 32 |
尺寸 (mm) |
At Focus: 63 Dia. x 172 L |
RoHS |
豁免 |
15933752505