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MarSurfXCR 20轮廓仪和粗糙度仪测量一体机
描述
组合“轮廓和粗糙度“测量任务使用的测量站 - MarSurf XCR 20MarSurf XCR 20 组合测量站是轮廓和粗糙度测量的理想选择。
此测量站包含 PCV / CD 120 驱动单元和 GD 25 粗糙度驱动单元和 MFW 250 B 测头系统。
两个驱动单元均使用联合支架安装在测量立柱 (ST 500/ST 750)上，可用于粗糙度 (GD 25) 或轮廓（PCV 或 CD 120）测量。
结合 XCR 20 测量和评定软件，此测量站配置可用作通用型测量站测量粗糙度深度和轮廓。
主要优势有：
一个测量站适合两种测量任务
* 使用经过检验和测试的 PCV 200 轮廓驱动和测头系统（如上文所述）。
* 使用高精度 GD 25 和 MFW 250 B 测头和高分辨率测量系统测量粗糙度
另外，此联合测量站还可改装为 XC 20 配置。换句话说，如有需要，您可使用 PCV / CD 120 驱动单元方便地将 XC 20 测量站升级为联合测量站。只需添加 GD 25 驱动单元和联合支架。软件需要从 XC 20 升级为 XCR 20。
技术参数:
| 接触速度(Z方向)
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0.1-1mm/s
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测杆长度
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175mm，350mm
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测量速度（文本）
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0.2mm/s至4mm/s
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针尖半径
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25
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扫描长度末尾（X方向）
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200mm
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分辨率
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Z方向，相对探针针头： 0.38μm（350mm测杆）/0.19μm（175mm测杆） Z方向，相对测量系统：0.04μm
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扫描长度开始（X方向）
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0.2mm
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取样角
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在平滑表面上，取决于偏差：后缘高至88°，前缘高至77°
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定位速度（文本）
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X方向返回速度：0.2至8mm/s Z方向：0.2至10mm/s
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导块偏差
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＜1μm（200mm以上）
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测量原则
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探针法
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输入
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R测头，MFW250 光学测头Focodyn*、LS 1*、LS 10* （*仅结合PGK或GD 120 CNC驱动装置）
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测量范围mm
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（in Z）50mm MFW 250：±25μm，±250μm，（高±750μm）；±1000μm,±10000μm（高±30000μm）
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扫描长度（文本）
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自动；0.56mm；1.75mm；5.6mm；17.5mm，56mm， （.022/.070/.224/.700/2.240英寸） 测量至挡块，可变
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采样长度数量符合ISO/JIS
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1至50（默认：5）
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测量力(N)
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1mN至120mN左右（可在MarSurf XC 20中设置）
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测量站配件
标准
MarSurf XCR 20 订货号 6268383
包含 Midrange 标准控制单元、 XCR 20 软件、 Mahr 许可密钥
MarWin PC* 订货号 9xxxxxx
TFT 24“ 显示器 订货号 3027221
MCP 21 手动控制面板 订货号 7033935
GD 25 驱动单元 订货号 6721006
MFW 250 B 测头系统套件 订货号 6111406
PCV 200 驱动单元 订货号 6720810
标准轮廓校准套件 订货号 6820124
ST-500 测量立柱 订货号 6710250
GD 25 和 PCV 联合支架 订货号 6851349
CT 300 XY 工作台 订货号 6710549
可选：
PPS 平口虎钳 订货号 6710604
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