HMF-XGRAIN 近红外晶粒分析仪 谷物分析仪 农业 作物分析 进口

　　技术优势

　　易于操作，人体工程学

　　谷物分析仪易于在8“显示屏上操作。仪器的直观软件非常易于使用

　　基于云的基础设施互联网连接

　　借助应用程序，可以从计算机，手机或平板电脑访问和管理

　　内置百升重量模块

　　内置百升砝码模块，允许您一步测试特定砝码和其他质量参数

　　校准

　　我们的校准确保对全麦谷物、油籽和面粉进行准确可靠的测量

　　应用领域

　　可用于分析谷物和面粉的成分，而无需样品制备。这些设备主要用于测量蛋白质，水分，麸质，灰分和油含量，但也可以测量zeleny指数。

　　仪器的主要应用领域有：

　　粮食生产

　　粮食接收和储存

　　粮食贸易

　　制粉

　　面包店

　　意大利面制作

　　大豆压榨和提取

　　饲料原料分析

　　工作原理

　　近红外晶粒分析仪器是在近红外（nir）波长范围内工作的分光光度计。红外晶粒分析仪是透射模式（nit - 近红外透射）仪器，可应用780-1064nm波长范围的光进行测量。一些生物材料，如谷物和面粉，以可测量的程度传输上述波长范围的光。仪器扫描要分析的材料，并测量在多个波长下透射光的强度（光谱）。光谱的测量是在某些选定的波长下完成的：这些波长的光是由所谓的扫描光栅单色器产生的。

　　根据光电二极管测量的光强度，内置计算机计算并显示所分析材料的特性。在分析之前，我们必须确定透射光的光谱与要预先测量的分量之间的数学相关性 - 这个数学方程称为校准。对于每个产品和组件，需要不同的校准。开发新的校准需要在实验室中测量使用“传统”方法分析的大量样品的光谱。我们根据这些光谱计算校准。仪器只能在安装相关校准后测量产品的组件。

　　配备扫描光栅单色仪的仪器代表了近红外晶粒分析仪的优秀类别，因为它们具有更高的光学分辨率，可实现更高的测量精度。

　　技术优势

　　“传统”解决方案复杂的机械元件

　　由于样品的粒度和不均匀性与光束的大小有关，一次测量不能给出令人满意的结果：为了获得可接受的精度和可重复性，我们必须平均数百个基本测量的结果。“传统”仪器将样品分成子样品并测量这些子样品，或者移动样品并在更多点上测量以达到代表性样品。这些方法通常需要复杂且昂贵的机械解决方案。

　　补偿

　　在定量分析的情况下，不仅要确定组件的类型，还要确定其百分比，因此需要非常稳定和准确的分析。只有当我们通过同时测量非常稳定的光学元件（光学标准）来补偿测量系统的变化（例如预热，零件的变化等）时，才能实现稳定性。“传统”仪器通常通过实现2个测量“通道”或进行2个连续测量来做到这一点：

　　- 方案一很昂贵，只有在两个信道相等时才可接受

　　- 方案二在理论上不可能是完美的解决方案，因为2个测量之间经过了很长时间。

　　为什么sbcs不同？单光束补偿系统

　　此产品的专利光学装置sbcs不同于上述所有装置，因为它只应用一个光通道，而且这个通道的元素是旋转的。这意味着sbcs代表性的采样可以通过移动光而不是移动样本来实现:高速旋转的光束在一个大的表面上扫描样本。 光束在16个不同的连续点上测量样品，并在每个周期内测量透射光学标准。旋转的速度保证了样品的代表性测量和传动标准测量的同时性。 这种同时性和只应用一个光通道的光学排列产生了完美的补偿。sbcs 的优点

　　部件很少的简单机械

　　体积小，重量轻;

　　简单且成本更低的生产，服务和维护

　　低功率灯管，发热少，但光照强度仍然高

　　不受温度影响，无预热时间：仪器开机后可立即使用

　　灯在测量过程中仅照明，可提供更长的使用寿命，无需定期更换