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AWG芯片Bar条自动耦合测试方案规格书
1、系统功能和特点
1) AWG Bar条测试 采用左右各6轴，中间1个Bar条轴，1个CCD轴总共14个电动滑台进行自动找光控 制并且扫描测试的架构.
2)软件系统兼容扩展4/40/48/60CH AWG芯片、Bar条自动测.
3)软件兼容CWDM/DWDM的芯片测试， 同一个软件件界面实现自动调光和自动扫描测试功能 。
4) 左右两边采用涡电流进口传感器自动三个方向角度调平行，自动控制FA端与每一颗芯片的距离，没有行程导致的各种累计误差，60通道兼容扫描测试和耦合高速找光功能。
5) Bar条用真空吸附，Bar条按要求上料后人工辅助系统自动找芯片的输入光，后续动作全部无人干预测完所有颗粒芯片，每一颗芯片都进行微调平行、对光以及扫描测试并计算光谱参数。
6) 扫描测试部分1台可调光源+1台偏振控制器可以共享多工位进行并行扫描测试，工位之间无须排队等待，互不干扰。
7) 可调光源工作波长可以任意设置起始、终止波长和step步距.
8)自动保存所有Raw Data和计算结果到SQL Server数据库，并根据客户定义的数据库结构和接口 进行数据保存及处理。自动批量打印出货报表。
9) 软件功能、参数计算定义、数据库保存方式和接口支持按客户的合理要求来升级优化.
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