IC芯片测试治具 笔记本显卡N16S-GT-S-A2 测试治具开发 芯片测试公司
产品特点及性能参数：
1、治具采用的是手动翻盖式结构，操作方便，（可根据客户需求定制专款）；
2、上盖的IC压板采用旋转按压式结构，下压平稳，保证测试的【N16S-GT-S-A2 显卡】压力均匀，不移位；
3、探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠,不会损坏锡球；
4、高精度的定位槽或导向孔，保证【N16S-GT-S-A2 显卡】定位，测试效率高；
5、采用浮板结构，对于测试的【N16S-GT-S-A2 显卡】有球无球都能检测；
6、探针材料：铍铜(标准)；
7、探针可更换，维修方便，成本较低；
8、绝缘材料：电木、FR4；
9、小可做到跳距pitch=0.4mm(引脚中心到中心的距离）；
10、用途：用于测试笔记本CPU性能好坏 是否能正常使用。
11、可根据用户要求定做各种阵列的socket。
产品服务：
1、6个月免费保修（人为损坏除外）,也可按实际测试要求商讨保修期；
2、成本价提供治具升级优化服务；
3、可长期免费提供相关的技术支持；
4、研发、制作各类IC测试治具，电脑CPU、南北桥、颗粒IC测试治具。
5、制作各型号【N16S-GT-S-A2 显卡】植球钢网
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