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| 型号 |
P1401/P1501 set |
加工定制 |
否 |
Langer射频耦合套组（IC测试系统）
品牌：Langer EMV-Technik
型号：P1401/P1501 set
射频功率场耦合1GHz
Langer射频耦合套组（IC测试系统）P1401/P1501 set介绍：
P1401/P1501机组或 P1402/P1502机组可分别用于测量1GHz 和3GHz 频率范围内的集成电路(IC)对磁场和电场的抗扰度。P1401或 P1402场源用于产生磁测试场，P1501或 P1502场源用于产生电测试场。通过使用间隔环将各自的场源定位在测试集成电路的上方，然后将其测试场施加到集成电路上以测量其对干扰的抗扰性。
Langer射频耦合套组（IC测试系统）P1401/P1501 set配置:
1x P1401, 高频磁场源（~1GHz）
1x P1501, 高频电场源（~1GHz）
1x D70 h03
1x D70 h10
2x SMA-SMB 1 m, SMA-SMB 测量电缆
1x P1401 / P1501 case, System case
1x P1400 / P1500 m
简短的介绍：
P1401型磁场源检测集成电路在高频磁场下的抗干扰性。受测集成电路处于工作状态。P1401型磁场源与功率放大器和高频信号发生器连接使用。
P1501型电场源检测集成电路在高频电场下的抗干扰性。受测集成电路处于工作状态。P1501型电场源与功率放大器和高频信号发生器连接使用。
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