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| 型号 |
P1601/P1702 |
加工定制 |
否 |
Langer干扰发射探头套组（IC测试系统）
品牌：Langer EMV-Technik
型号：P1601/P1702
基于IEC61967-4标准的传导发射测量，射频场发射至1GHz
Langer干扰发射探头套组P1601/P1702介绍：
P1601/P1702的测量确保了测量的高重复性和可比性。可以使用 ChipScan-ESA 软件进行测量。利用该软件保存了所有被测点的测量结果。它允许系统地、快速地比较和分析测量数据。
Langer干扰发射探头套组P1601/P1702配置:
1x P1601
1x P1702, 高频电场探头
1x CS-ESA set, ESA芯片扫描软件
1x D70 h03
1x D70 h10
1x SMA-SMA 1 m, SMA-SMA 测量电缆
1x SMA-SMB 1 m, SMA-SMB 测量电缆
1x N-SMA
1x P1600 / P1700 case, System case
1x P1600 / P1700 m
简短的介绍：
P1601：射频磁场探头具有50Ω 的射频测量输出。为了定位不同方向的磁场电流，射频磁场探头在集成电路上方旋转360 ° 。在距离环(3或10)毫米的帮助下，射频磁场探针被定位在 IC 上方的一定距离内。
P1702型高频电场探头用于测量从一个集成电路发出的电场。这些电场会耦合到探头的电极上。由此产生的延迟电流会造成相连的频谱分析仪的输入端电压下降。相连的频谱分析仪会测量这些压降。
ESA芯片扫描软件用于频谱分析仪，存储并记录测量曲线。这些曲线可以任意的相互或者与校正曲线、与频率相关的曲线和曲线常数换算。
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