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电子芯片IC专用两槽式冷热冲击箱
性能特点：
1、气动式阀门方便开启，保证气密及断热保护；
2、试验槽完全静止，可由测试孔外加负载配线；
3、蓄能方式可避免使用者职业伤害；（注：液态气体所产生的废气，吸入肺部致使肺部氧气量减少，而产生工作倦怠，注意力不集中等）
4、温度控制精度高，全部采用PID自动演算控制；
5、可选择始动位置，高温或低温开始循环；
6、具有预约起动功能；
电子芯片IC专用两槽式冷热冲击箱
参数规格:TSC-100F-2P
产品型号：高温槽温度范围：+60℃→ +180℃
低温槽温度范围：-60℃→-10℃
实验箱冲击温度：高温+60～150℃.低温 (-10～ -40℃)
高低温转换时间：≤10S
高低温恢复时间：3~5min（非线性空载下）
控制精度：温度±0.2℃（指控制器设定值和控制器实测值之差）
温度波动度：≤0.5℃（温度波动度为中心点实测*温度和*低温度之差的一半）
温度误差：≤±1℃（工作室温度控制器显示值的平均温度减去中心点实测的平均温度）
温度均匀度：≤2.0℃（温度均匀度为每次测试中实测*温度和*低温度之差的算术平均值）
预热区升温速度：≥3℃/min（非线性）
预冷区降温速度：≥2℃/min（非线性）
产品用途:
冷热冲击箱适用于电子、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，测试各种材料对高、低温的反复抵拉力，试验产品于热涨冷缩产生的物理伤害或化学变化，可确认产品的品质，从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的认同。
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