数字大电流发生器 温升试验设备 大电流温升试验装置1000A

数字大电流发生器 温升试验设备 大电流温升试验装置1000A半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，封装和封装后测试组成，晶圆制造和封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。

　　HNDL系列全自动大电流发生系统，采用系统控制板进行控制，维纶系列触控屏作为人

　　界面，实现的全自动大电流检测设备。该系列设备通过安装不同模块，可实现不同的大电流输出，温度测量。通过人机界面选择可实现手动自动操作，查看温度数据等操作并对数据进行简单处理。温升三相大电流发生器主要用于母线槽，开关，开关柜和其它电器设备作电流负载试验及温升试验。

　　电流、时间、状态信息及提示信息等数据大屏液晶显示，读数清晰、直观；

　　全中文界面，操作简单明了，可适应多种应用场合；

　　触屏常规按钮均可操作，操作直观、快捷、易上手。

　　全数字式校准方式，摒弃了陈旧的电位器调整，现场使用极为方便，精度易于控制；

　　状态提醒功能，引导式操作，即使在无说明书的情况下亦可熟练操控；

　　暂停功能，自动控制时，此功能可做到在任意点实现电流升/降过程的暂停，暂停时间可由试验人员灵活掌握，方便观察试品状态；

　　自动计时功能，当暂停实验时计时停止，暂停时间开始计时。继续试验时输出时间重新开始计时

　　手动计时功能，手动控制时，计时器可手动启动。

　　手动控制模式，此模式类似于传统的电动升/降方式，电流的增加/减少由按钮控制，设备自动判断上/下限位，有过电流保护等功能，整个试验过程手动控制，按需操作；

　　互感器变比测试功能，可自动计算互感器当前

　　带停止/紧急按钮，可手动复原；

大电流输出界面介绍

“输出电流”显示当前系统输出的电流值。

“电流设置”显示当前自动状态设置的电流值。如想更改设定的电流值，可以触控1号区域，即可进入设置界面，有关设置的问题，可以参考后面，设置部分的说明。

“手动控制”图中2号区域是手动控制区域，手动状态可通过触控对每相电流进行控制，也可通过“同加”，“同减”控制三相电流增减。 手动自动状态切换参考下面章节。

“运行时间”显示的是启动按钮按下后到现在的时间，按下暂停键将停止计时，取消暂停后会继续计时。

界面下方的按钮可进行相关控制，其中“温度”、“曲线”、“菜单”可进入相关界面进行数据查看和其他操作。“菜单”按钮只有在系统停止状态才能进行触控即返回主菜单操作。

“温度”、“曲线”将在下面章节详细介绍。

2.2自动/手动切换

在电流测试界面可通过“自动”/“手动”对输出电流的控制状态进行切换，当“自动”/“手动”按钮被按下是即为当前的操作状态。被按下的按钮显示为橘红色。

数字大电流发生器 温升试验设备 大电流温升试验装置1000A因为显示给分之一分贝的功率或分数赫兹的频率并不意味着该仪器具有测量这些细微变化的能力。通常这些显示的位数远远超过了仪器在这一水平的测量能力。要充分了解一个射频仪器的测量能力，往往要参考说明书或数据表。前后一致的定义可以减少您测量中可能出现的混淆。以下是您在使用中会经常看到的一些关键术语：分辨率－仪器所能可靠检测到的改变；重复性－在同样条件下多次进行同一测量获得相同结果的能力；不确定性－对被测量的准确值缺乏认知部分的量化；精度－仪器在一定误差范围内测量一个参数实际/值的能力。