收购 日本HIOKI日置IM3590IM3570) LCR测试仪

　　现金回收hioki日置IM3570日本HIOKI日置IM3590 LCR测试仪

　　● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查

　　● LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量

　　● 基本精度±0.08%的高精度测量

　　● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量

　　● 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量

　　● 可以用于无线充电评价系统TS2400

　　● 搭配4ch扫描模块机架，更能实现2MHz阻抗的4ch测量

　　M3570阻抗分析仪,日置IM3570阻抗分析仪适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量。

　　IM3570阻抗分析仪,日置IM3570阻抗分析仪的特点：

　　1.基本精度±0.08%的高精度测量，分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量。

　　2.LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量。

　　3.HIOKI IM3570适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量。

　　4.1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查。

　　IM3570阻抗分析仪,日置IM3570阻抗分析仪的技术参数表：

　　测量模式LCR（LCR测量），分析仪（扫描测量），连续测量

　　HIOKI IM3570的测量参数Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流电阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q

　　测量量程100mΩ~100MΩ，12档量程（所有参数由Z确定）

　　显示范围Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[单位]~9.999999G[单位]，仅Z和Y显示值

　　θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999）

　　Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%）

　　基本精度Z：±0.08%rdg. θ：±0.05°

　　测量频率4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步进）

　　测量信号电平V模式，CV模式（普通模式）

　　50mV~1Vrms，1mVrms步进（1MHz以下）

　　10mV~1Vrms，1mVrms步进（1.0001MHz以上）

　　CC模式（普通模式）

　　10μA~50mA rms，10μA rms步进（1MHz以下）

　　10μA~10mA rms，10μA rms步进（1.0001MHz以上）

　　HIOKI IM3570输出阻抗普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω

　　显示彩色TFT5.7英寸，可设置显示ON/OFF

　　测量时间0.5ms（100kHz，FAST，显示OFF，代表值）

　　测量速度FAST/MED/SLOW/SLOW2

　　HIOKI IM3570其他功能DC偏压测量，比较功能，面板读取和保存，存储功能

　　接口EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通讯，U盘，LAN

　　电源AC90~264V，50/60Hz，150VA

　　打印拷贝测量值或屏幕显示的要点（需用9442，9593-01和9446）

　　接口GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有标准)

　　电源AC90~264V，50/60Hz，150VA

　　体积和重量330W×119H×307Dmm，5.8kg

　　附件电源线×1