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| 品牌 |
乐镤科技 |
重量 |
300g |
| 分辨率 |
0.001Ω/□ |
测量范围 |
1.000~19.999Ω/□; |
| 加工定制 |
否 |
重复性误差 |
≤±0.8% |
| 可测样品状态 |
薄层电阻测试仪 |
|
ST-21L型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
特点:
1
采用大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定,低功耗;
2
以大屏幕LCD显示读数,直观清晰;
3
采用单个电池供电,带电池欠压指示;
4
体积≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;
5
特制之手握式探笔,球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜
6
探头带抗静电模块

