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| 品牌 |
乐镤科技 |
重量 |
300g |
| 测量范围 |
1.00～199.99Ω/□ |
加工定制 |
否 |
| 重复性误差 |
≤±0.8% |
可测样品状态 |
薄层电阻测试仪 |
ST-21方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻（表面电阻）的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜（ITO透明氧化膜），金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
特点：
采用大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定，低功耗；
以大屏幕LCD显示读数，直观清晰；
采用单个电池供电，带电池欠压指示；
体积≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；
特制之手握式探笔，球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜
探头带抗静电模块
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