半导体热特性热阻抗测试仪系统

半导体热特性热阻抗测试仪系统

价格 985,000.00
起订量 10㎡
货源所属商家已经过真实性核验
品牌 天士立
型号 ST-HeatX
关键字
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陕西天士立科技有限公司
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主营:
半导体分立器件静态动态参数测试系统,IGBT静态动态参数特性测试设备,MOS-FET管场效应管测试仪

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产品详情
型号

ST-HeatX

安装方式

固定式

用途

热分析仪器

加工定制

产地

陕西西安

是否进口

厂家

陕西天士立科技有限公司

  半导体热特性热阻抗测试仪系统_陕西天士立科技研发生产_平替T3Ster_Phase11热特性测试仪。产品符合JESD 51-1、JESD 51-14标准,用于DIODE、IGBT、MOSFET、HEMT、GTO、功率IC等多种类型功率器件及其模组瞬态热阻抗、热结构分析、结构函数输出

  ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统

  ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统的产品特点

  超高精度:温度(T;)分辨率0.01℃℃,1MHz变频采样:

  技术:第三代瞬态热测试技术,可输出结构函数进行热结构分析

  行业:具备4路高速高精度采集模块,采样速度,精度均达到行业水平

  架构:采用B/S架构控制系统、可远程对设备进行状态监控和控制,实现智能化;

  瞬态监测:连续采集加热和冷却区的结温变化,同步采集温度监控点数据;

  NPS技术:同步采集温度监控点(NTC/PTC)和结温数据,形成数据关系矩阵。

  ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统的应用场景

  器件结壳热阻测量ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统

  散热结构分析ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统

  Die-Attach热阻测量ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统

  DBC/AMB基本热特性测量ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统

  界面热阻测量与分析ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统

  PCB板级散热结构分析ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统

  散热器性能测量ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统

  TIM材料热导率测试ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统

  热缺陷检测ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统

  ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统的“功能指标”

  

  产品品牌

  

  天士立

  

  

  产品型号

  

  ST-HeatX

  

  

  产品名称

  

  半导体热特性测试系统

  

  

  主要功能

  

  适用于多种类型功率器件及其模组的瞬态热阻抗、热结构分析、结构函数输出

  

  

  试验对象

  

  DIODE、MOSFET、IGBT/IGCT、HEMT、GTO、IC

  

  

  试验标准

  

  符合JESD51-1、JESD51-14、IEC 60747-8、IEC 60747-9、IEC 60747-15、IEC 60749-23、IEC 60749-34、AEC-Q101、AQG 324等相关标准要求

  

  

  试验模式

  

  DIODE模式

  SAT模式

  IGBT模式

  RDSON模式

  HEMT模式

  

  

  门控电源

  

  数量4

  输出方式隔离输出

  输出范围-10V ~ 20V

  输出误差≤0.1V + 0.5%set

  分辨率0.01V

  

  

  NTC/PTC

  数据同步

  采集

  

  NTC测量范围250kΩ ?100Ω

  PTC测量范围100Ω ?250kΩ

  采样频率1MHZ

  同步时间误差≤1μs

  

  

  栅极漏电

  测量

  

  量程分辨率1nA ~ 850nA@0.01nA

  量程分辨率850nA ~ 1mA@0.01uA

  

  

  加热电源

  

  量程 30A / 10V

  电流输出误差≤0.05A + 0.1%set

  电流设定分辨率0.01A

  开关速度1μs

  

  

  测温电流源

  (主)

  

  量程±0.1A ~±1A / 10V

  分辨率1mA

  误差≤2mA + 0.5%set

  

  

  测温电流源

  (辅)

  

  量程0 ~ 100mA / 10V

  分辨率0.01mA

  误差0~10mA≤50μA + 0.5%set

  误差10 ~ 100mA≤0.5mA + 0.5%set

  

  

  测量通道

  

  数量4

  动态电压测量范围±5V(差分模式)

  动态电压测量误差≤1mV + 0.5%set

  动态电压量程100mV、200mV、400mV、800mV

  动态电压分辨率1.6μV

  采样频率1MHz

  采样模式连续变频采样

  

  ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统的“温度系数标定”

  ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统的“瞬态热测试”

  四、数据处理与输出4.1、“数据处理与输出”ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统

  4.2、“热模型抽取”ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统

  4.3、“脉冲热阻”ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统

  4.4、“安全工作区”ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统

  ST-HeatX迷你版10A5V1C1P版本

售后服务

商家电话:
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