日本shibuya涩谷光学反射率测量装置MSP-100
日本shibuya涩谷光学反射率测量装置MSP-100

日本shibuya涩谷光学反射率测量装置MSP-100

价格 6,300.00
起订量 10㎡
货源所属商家已经过真实性核验
品牌 shibuya
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南昌幸和工业技术有限公司
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产品详情
品牌

shibuya

是否支持加工定制

是否进口

波长范围

4

材料

6

材质

5

采样流量范围

7

操作方式

8

测光方式

2

测量对象

3

测量范围

9

测量精度

100

测量口径

52

测量时间

0.001

测量重复性

32

测试范围

99

电源

200







反射率测量装置MSP-100
通过使用特殊的半反射镜(已获得专利),可以切断背面反射的光,无需背面处理即可在短时间内进行精确测量。
(可测量 0.2 mm 薄板的反射率:使用 ×20 物镜时)
还可以测量镜片曲面和涂层不均匀度。(在样品表面连接微小点(φ50μm))
即使是低反射率的样品也可以在短时间内进行测量,并且具有高重复性。(独特的光学设计捕获最大量的光,并
通过512元件线性PDA、内置16位A/D转换器和USB 2.0接口实现高速计算实现快速测量。)
可以进行色度测量和L*a*b*测量。可以使用光谱比色法根据光谱反射率来测量物体。
数据可以以 Microsoft Excel(R) 格式保存。
单层薄膜可以非接触式、非破坏性地测量。
具有在同一屏幕上显示多个测量结果的功能。轻松比较测量结果。
型号 MSP-100
测量波长 380~1050nm
测量重复性 ±0.2%(380-450nm)
±0.02%(451-950nm)
±0.2%(951-1050nm)
样品面 NA NA 0.12(使用 10 倍物镜时)
样品测量范围 φ50μm(使用10倍物镜时)
样品曲率半径 -1R~-无穷大, +1R~无穷大
显示分辨率 1纳米
测量时间 几秒到十几秒(取决于采样时间)
外形尺寸 (宽)230×(高)560×(深)460mm(仅机身)
工作温度限制 18~28℃
工作湿度 60%以下(无凝露)

商家电话:
15907000708