联系人:瑞柯析理业务
邮箱:18157427371@163.com
电话:18058263739
地址: 浙江宁波市江北区宁波江北区前江街道通宁路520弄199号金山智造园14幢8楼
四探针 四点探针四探针测试仪,探针电阻率测试仪方阻仪
ft-340系列双电测电四探针方阻电阻率测试仪
ft-340 series double electric four-probe resistance ratio tester
一.应用说明widely used:
覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试
硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ito导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ito导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,pcb铜箔膜,emi涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜,emi防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等,提供中文或英文两种语言操作界面选择,
二.描述deion:
采用四探针组合双电测量方法,液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出;选配:pc软件进行数据管理和处理.
| 规格型号/ model
|
ft-341
|
ft-342
|
ft-343
|
ft-345
|
ft-346
|
ft-347
|
|
1.方块电阻sheet resistance
|
10-5~2×105ω/□
|
10-4~2×105ω/□
|
10-3~2×105ω/□
|
10-3~2×104ω /□
|
10-2~2×105ω/□
|
10-2~2×104ω/□
|
|
2.电阻率resistivity
|
10-6~2×106ω-cm
|
10-5~2×106ω-cm
|
10-4~2×106ω-cm
|
10-4~2×105ω-cm
|
10-3~2×106ω-cm
|
10-3~2×106ω-cm
|
|
6.显示读数display
|
屏液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率
| |||||
ft-330系列普通四探针方阻电阻率测试仪
.型号及参数models and technical parameters
| 规格型model
|
ft-331
|
ft-332
|
ft-333
|
ft-334
|
ft-335
|
ft-336
|
|
1.方块电阻范围sheet resistance
|
10-5~2×105ω/□
|
10-4~2×105ω/□
|
10-3~2×105ω/□
|
10-3~2×104ω/□
|
10-2~2×105ω/□
|
10-2~2×104ω/□
|
|
2.电阻率范围resistivity
|
10-6~2×106ω-cm
|
10-5~2×106ω-cm
|
10-4~2×106ω-cm
|
10-4~2×105ω-cm
|
10-3~2×106ω-cm
|
10-3~2×105ω-cm
|
|
6.显示读数display
|
液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率
| |||||
|
7.测试方式test mode
|
普通单电测量general single electrical measurement
| |||||
温馨提示:半导体材料测量,我们提供四探针法,低阻,高阻,双电组合法,普通单电法,以及高温电阻率测试仪系列,欢迎和我们保持联系---瑞柯仪器
温馨提示:半导体材料的电导性能和均匀性通过四探针法来测试,四探针测试仪根据量程可以划分为,低阻四探针测试仪测到-6次方;高阻四探针测试仪测到7次方至9次方;,双电测四探针测试仪测到-5次方到5次方,单电测四探针测试仪-5次方到5次方,
我们解决半导体材料电性能测量问题,上述都是我们产品,欢迎和我们交流—瑞柯仪器
四探针 四点探针 四探针测试仪,探针电阻率测试仪 方阻仪

四探针 四点探针 四探针测试仪,探针电阻率测试仪 方阻仪
