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| 品牌 |
HITACHI |
校准方式 |
两点校准（标准箔片校准） |
| 显示方式 |
高清LCD液晶显示（带背光） |
数据存储容量 |
10000组测量数据 |
| 型号 |
CMI165 |
数据接口 |
USB2.0/蓝牙5.0 |
| 抗干扰能力 |
内置EMC电磁屏蔽设计 |
是否支持加工定制 |
是 |
| 操作方式 |
手持式 |
显示单位 |
mil、μm、oz |
| 背光功能 |
五级可调背光（自动感应环境光） |
加工定制1 |
否 |
| 化学铜测量范围 |
0.25μm-12.7μm |
适用材料 |
覆铜板、PCB板表面铜箔 |
| 测定对象 |
面铜厚度 |
历史记录查询 |
支持按时间/批次查询历史测量数据 |
| 自动关机 |
5分钟无操作自动关机（可设置关闭） |
储存量 |
9690条检测结果 |
| 测量精度 |
±(1%H+0.1μm)（H为实测厚度） |
误差修正 |
基材厚度补偿功能（0.1mm-3mm基材厚度修正） |
| 分辨率 |
0.01μm |
测量时间 |
≤0.5秒/次 |
| 外壳材质 |
ABS+PC工程塑料（防摔设计） |
固件升级 |
支持通过USB接口在线升级固件 |
| 单位切换 |
μm/μin（微米/微英寸） |
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