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工厂品3225-4PIN晶振老化座3.2*2.5 晶振翻盖探针频率测试座
3.2*2.5-4PIN晶振探针老化座
产品简介
A、产品用途:老化座、测试座，对3225（3.2*2.5）的IC芯片进行高低温老化测试
B、适用封装: 3225(3.2*2.5)-4PIN晶振探针老化座
C、采用双触点技术，接触更稳定、体积小。
D、采用特殊的工程塑胶，强度高、寿命长、阻抗小、弹性好
E、镀金层加厚，触点加厚电镀，超低接触阻抗、高可靠度，使用寿命（翻盖结构20000次）
F、我司可提供规格书（布板图）资料，PDF档\CAD
规格尺寸
A、型号: 3225（3.2*2.5）-4PIN
B、脚位:4
C、芯片尺寸:3.2*2.5
实物图拍：
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