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QFN40-0.5芯片测试座 镀金插针编程座下压老化座QFN40烧录座工厂
QFN40-0.5下压弹片测试座
产品简介
产品用途:编程座、测试座，对QFN40的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN40引脚间距0.5mm
测试座:QFN40-0.5
特点:采用U型顶针，接触更稳定
规格尺寸
型号:QFN-40-0.5
引脚间距(mm):0.5
脚位:40
芯片尺寸:6*6
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