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| 型号 |
WG-38-1.0G |
货号 |
KW98009879 |
| 加工定制 |
是 |
是否进口 |
是 |
2 微米尖钨钢探针是一种高精度的半导体测试探针，其针尖半径可达 2 微米级别，在半导体晶圆测试等领域应用广泛。以下是相关介绍：产品特点
高精度接触：2 微米的针尖能够接触半导体芯片上的微小测试点，可满足纳米级芯片测试需求，实现高精度的电气性能测试。
良好的物理性能：钨钢材料具有高硬度、高强度和良好的耐磨性，能在频繁的测试过程中保持针尖形状，不易磨损，确保测试的一致性和可靠性。
优异的导电性：钨钢本身是良好的导体，可有效减少信号传输过程中的损耗和干扰，保证测试信号的准确传输，从而获得可靠的测试结果。
主要用途主要用于半导体晶圆测试环节，作为探针台的关键部件，接触连接晶圆上的待测件电极，为芯片的电参数测试提供导通条件，如测量芯片的电压、电流、电阻等直流参数，以及射频信号的传输特性等微波参数。代表产品韩国 KTS 公司的 WG-38 系列探针中有针尖半径小于 2 微米的型号，如 SW-38-1.0G，其探针杆直径为 0.51mm，长度为 1.5 英寸，采用直径 0.020 英寸的实心钨轴，经电化学研磨成特定针尖形状，可用于刮擦或刺穿多层钝化层，适用于大多数标准微，进行集成电路、焊盘或线路的探测。
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