金属箔测厚仪 镀金膜测厚仪 铝板测厚仪 EVE膜测厚仪 定点测厚仪

　　材料的基本物理特性之一是其能按既定比例吸收或反射特定波段的辐射，吸收或反射能力与材料种类和厚度有关。 X 射线测厚系统正是应用了这一原理。射源的选择和应用方式（传输和被反射）由被测材料的材质和应用需求来决定。穿透式用于测量金属厚度。射线管和检测器分别置于材料的两边。检测器检测到的放性随厚度增加而减少。检测到的放射性则由微处理被转换成为电信号，再根据测量产品进行校准。软件平台采用微软的WINDOWS平台和ARM的人机界面两套系统可供选择，由于核心机架部分采用水冷散热，所以完全满足高温环境的使用。

　　C型架中固定有射源和检测器。射源内有可产生射线的X射线管。检测器固定在射源上方，由一个能检测射源发散出的放射性的电离室，一个高压电源和一个静电放大器组成。电离电流与进入电离室的辐射成比例。所有置于射源和电离室之间空隙的材料都会以一定比例减弱辐射，而这个比例又与材料密度成比例。如果材料密度均匀，则随着厚度的增加，材料对辐射的减弱作用就越强，电离电流就越小。